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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 海生 直人 (広島修道大)
副委員長 渡邉 均 (東京理科大)
幹事 木村 光宏 (法政大)， 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 田村 信幸 (防衛大)

日時 2010年11月19日(金)　14:00 - 16:15
議題 電子デバイスの信頼性，信頼性一般 
会場名 中央電気倶楽部（大阪市） 
住所 〒５３０－０００４ 大阪市北区堂島浜２丁目１番２５号
交通案内 JR大阪駅から徒歩１２分あるいは地下鉄四つ橋線西梅田駅から６分
http://www.chuodenki-club.or.jp/
会場世話人
連絡先		 登川一郎
06-6345-6351
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

11月19日(金) 午後 
14:00 - 16:15
(1) 14:00-14:25 はんだ接続点におけるエレクトロマイグレーションによる劣化評価 R2010-32 ○樋口晃裕・平岡一則（サレジオ高専）
(2) 14:25-14:50 急速温度サイクル試験による結晶系太陽電池モジュールの劣化加速検討 R2010-33 ○青木雄一・岡本　学（エスペック）・増田　淳・土井卓也（産総研）
(3) 14:50-15:15 封止接着剤の透湿性低減によるリレー封止信頼性の改良 R2010-34 ○福原智博・伊藤満雄・大谷　修（オムロン）
  15:15-15:25 休憩　（ 10分 ）
(4) 15:25-15:50 ブートストラップを活用したテスト工程におけるソフトウェア信頼性評価手法 R2010-35 ○藤原隆次（ビジネスキューブ・アンド・パートナーズ）・木村光宏（法政大）
(5) 15:50-16:15 確率過程モデルに基づく劣化データの信頼性解析 R2010-36 ○貝瀬　徹（兵庫県立大）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 木村光宏（法政大学）
TEL 042-387-6116
FAX 042-387-6126
E--mail: mi 


Last modified: 2010-09-24 15:51:19


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