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信頼性研究会(R) [schedule] [select]
専門委員長 渡邉 均 (東京理科大)
副委員長 木村 光宏 (法政大)
幹事 馬渡 宏泰 (NTT), 田村 信幸 (防衛大)
幹事補佐 安里 彰 (富士通), 岡村 寛之 (広島大), マラット ザニケエフ (東京理科大)

機構デバイス研究会(EMD) [schedule] [select]
専門委員長 吉田 清 (日本工大)
副委員長 長谷川 誠 (千歳科技大), 関川 純哉 (静岡大)
幹事 久我 宣裕 (横浜国大), 服部 康弘 (住友電装)
幹事補佐 阿部 宜輝 (NTT)

日時 2012年 2月17日(金) 10:30 - 16:00
議題 機構デバイスの信頼性,信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,協賛:IEEE CPMT JAPAN) 
会場名 オムロンラーニングセンター 
住所 〒600-8530 京都市下京区塩小路通堀川東入
交通案内 http://maps.google.co.jp/maps?q=34.986922%2C135.753921&hl=ja&prmd=ivns&prmdo=1&um=1&ie=UTF-8&sa=N&tab=pl
会場世話人
連絡先
オムロン株式会社 高見幸二
075-334-6081(会場)
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛

2月17日(金) 午後 
10:30 - 16:00
  10:30-10:35 開会挨拶 ( 5分 )
(1) 10:35-11:00 ポリカーボネートケースを使用したリレーの封止信頼性の改善 達野陽介大谷 修福原智博オムロン
(2) 11:00-11:25 新規アクリルポリマーの近傍におけるリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討 長谷川 誠小林菜々絵千歳科技大)・河野良行安藤 寛カネカ
(3) 11:25-11:50 接点表面損傷形状の光学的計測システムに関する実験的検討 高橋佳佑長谷川 誠千歳科技大
  11:50-12:50 休憩 ( 60分 )
(4) 12:50-13:15 Si片持ち梁の貼り付き現象に与えるプロセス最終処理の影響 加藤一郎加藤真耶JAXA
(5) 13:15-13:40 中波自動整合回路の制御方式による信頼性評価 若井一顕第一工大
(6) 13:40-14:05 レールと車輪の電気的接触抵抗に関する研究 福田光芳伴 巧前橋栄一寺田夏樹藤田浩由遠山 喬大和田厚祐畑田芳隆鉄道総研
(7) 14:05-14:30 Ni-Sn間に成長するへら状生成物一考察(2) 伊藤貞則イトケン事務所)・鈴木雅史オムロン)・谷口富雄上田鍍金
  14:30-14:40 休憩 ( 10分 )
(8) 14:40-15:05 摺動の接触荷重-接触抵抗特性への影響 笹山昇吾三重大)・齋藤 寧オートネットワーク技研)・玉井輝雄エルコンテック)・飯田和生三重大)・服部康弘オートネットワーク技研
(9) 15:05-15:30 錫めっき銅板での微摺動摩耗に対する間欠時間の影響 安田純平飯田和生三重大)・齋藤 寧オートネットワーク技研)・澤田 滋三重大)・服部康弘オートネットワーク技研
(10) 15:30-15:55 接点形状と電気的耐久性の相関について 竹内史典高見幸二森 哲也オムロン
  15:55-16:00 閉会挨拶 ( 5分 )

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会(R)   [今後の予定はこちら]
問合先 木村光宏(法政大学)
TEL 042-387-6116
FAX 042-387-6126
E-: mi 
EMD 機構デバイス研究会(EMD)   [今後の予定はこちら]
問合先 長谷川 誠(千歳科学技術大学)
TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059
E-: pn
関川 純哉(静岡大学)
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E-: tjkipc
服部 康弘(住友電装)
TEL (059)382-8970、FAX (059)382-8591
E-: -tsws 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2011-12-14 17:15:12


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