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VLSI設計技術研究会 (VLD) (検索条件: 2010年度)
「from:2010-11-29 to:2010-11-29」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 10:40 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | CMOSデジタルLSIにおける電源雑音の周波数成分評価 ○吉川薫平・松本 大・佐々木悠太（神戸大）・永田 真（神戸大/JST）  CPM2010-124 ICD2010-83 |
近年のVLSIの大規模化・高集積化・低動作電圧化によりチップ内部の電流密度上昇や雑音マージンの低下がおこり,電源雑音が顕... [more] | CPM2010-124 ICD2010-83 pp.1-6 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 11:00 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | SRAMコアにおけるオンチップ電源雑音の発生と注入の評価 ○澤田卓也・利川 托・桝井 翼（神戸大）・永田 真（神戸大/JST） CPM2010-125 ICD2010-84 |
SRAMメモリ不良を評価可能なテストチップを試作し，SRAMにおける電源雑音発生を評価，また外乱ノイズを電源へ注入するこ... [more] | CPM2010-125 ICD2010-84 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 11:20 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | アナログ基本回路の基板雑音感度に関する考察 ○高谷 聡・坂東要志・長谷川貴士（神戸大）・大川 徹・早田征明・宝本敏治・山田利夫・熊代成孝・最上 徹（半導体先端テクノロジーズ）・永田 真（神戸大） CPM2010-126 ICD2010-85 |
アナログ増幅回路における信号利得と基板ノイズ応答のその場評価システムを90 nm CMOSテクノロジで試作し、ジオメトリ... [more] | CPM2010-126 ICD2010-85 pp.13-17 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 11:40 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | セグメント分割伝送線の波形整形能力の評価 ～ インダクタンスを含む伝送系について ～ ○島田弘基・秋田翔平・石黒将巳・安永守利・相部範之（筑波大）・吉原郁夫（宮崎大） CPM2010-127 ICD2010-86 |
近年、プリント基板等の高速ディジタル信号の伝送において、信号品質の低下が大きな問題となっている。ディジタル信号の周波数が... [more] | CPM2010-127 ICD2010-86 pp.19-24 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 13:30 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | ［招待講演］LSI配線の課題と光配線 ○横山 新・雨宮嘉照（広島大） CPM2010-128 ICD2010-87 |
現在のLSIの問題点として，長距離（グローバル）金属配線技術の増大する配線遅延と消費電力を指摘し，その解決法として，伝送... [more] | CPM2010-128 ICD2010-87 pp.25-30 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 14:10 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | ［招待講演］LSIチップ光配線開発の現状と課題 ○大橋啓之（MIRAI-Selete/NEC）・最上 徹（MIRAI-Selete） CPM2010-129 ICD2010-88 |
LSIチップ上への光配線技術導入は，シグナルインテグリティおよびピン数問題に対する優れた回答になる可能性を持っている．課... [more] | CPM2010-129 ICD2010-88 pp.31-36 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 15:00 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | ［招待講演］光配線技術の研究動向と将来展望 ○菅原俊樹・松岡康信（日立）・斎藤慎一（日立/光電子融合基盤技研）・松嶋直樹（日立）・辻 伸二（日立/光電子融合基盤技研） CPM2010-130 ICD2010-89 |
近年のインターネットのトラフィック量の増大により，サーバやルータなどの情報処理機器の装置内の信号伝送も高速化のニーズが高... [more] | CPM2010-130 ICD2010-89 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 15:40 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | ［招待講演］最先端半導体製品のESD設計技術動向 ○石塚裕康（ルネサス エレクトロニクス） |
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| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 13:30 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | ITS画像処理アルゴリズムの数学的記述から電子システム記述への変換の一手法 ○藤田有希生・都築正憲・杉田善哉・福井正博（立命館大） VLD2010-57 DC2010-24 |
近年, ITSのための知的画像処理アルゴリズムの発展はめざましく, 白線認識や車両, 歩行者認識等さまざまな手法が提案さ... [more] | VLD2010-57 DC2010-24 pp.1-6 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 13:50 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 仮想マルチプロセッサモデルに基づく高速SoCプロトタイピング手法 ○吉田浩章・藤田昌宏（東大/JST） VLD2010-58 DC2010-25 |
SoCでは高性能・高電力効率を両立するため,複数のプロセッサに加えて多数の特定用途アクセ... [more] | VLD2010-58 DC2010-25 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 14:10 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 発見的手法に基づくスケーラブルなインクリメンタル高位合成 ○小野翔平（東大）・吉田浩章・藤田昌宏（東大/JST） VLD2010-59 DC2010-26 |
近年のVLSIの大規模化・複雑化に伴い、高い抽象度で設計を記述することで 高い設計生産性を実現可能な高位合成手法の導入... [more] |
VLD2010-59 DC2010-26 pp.13-18 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 14:50 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法 ○邊見勇登・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2010-60 DC2010-27 |
近年，VLSI の高機能化，高集積化に伴い，放射線衝突によるソフトエラーの発生が懸念されている．特に近年の微細化と高速動... [more] | VLD2010-60 DC2010-27 pp.25-30 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 15:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価 ○山口久登・松薗 誠・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST） VLD2010-61 DC2010-28 |
フィールドでの自己テスト(BIST)ではテストパターン情報をチップ内に保持する必要があるため，テストデータ量を極力少なく... [more] | VLD2010-61 DC2010-28 pp.31-36 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 15:45 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | キャプチャ時消費電力指向テスト生成における検出疑似外部出力決定法 ○沈 揚・細川利典（日大）・吉村正義（九大） VLD2010-62 DC2010-29 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の遷移パターンの消費電力の増大は過度のIRドロップを引き起こし，結果として誤テ... [more] | VLD2010-62 DC2010-29 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 16:05 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | Rotating Test and Pattern Partitioning for Field Test ○Senling Wang・Seiji Kajihara・Yasuo Sato・Kohei Miyase・Xiaoqing Wen（Kyushu Insti. Tech.） |
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| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 16:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察 ○岩本由香・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2010-63 DC2010-30 |
近年，LSIテスト手法の１つとして組込み自己テストが利用されている．組込み自己テストでは，LSI内部にテストベクトル系列... [more] | VLD2010-63 DC2010-30 pp.43-48 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-30 09:10 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | DPAE技術を用いた17 Gb/s光配線用VCSELドライバ ○谷口隆哉・山下喜市・大畠賢一（鹿児島大）・中條徳男・矢崎 徹（日立） CPM2010-131 ICD2010-90 |
本論文では、DPAE (Double-Pulse Asymmetric Emphasis) 技術を用いたVCSELドライ... [more] | CPM2010-131 ICD2010-90 pp.43-47 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-30 09:30 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | ビアプログラマブルストラクチャードASIC・VPEXの新アーキテクチャ提案と性能評価 ○堀 遼平・北森達也・上岡泰輔（立命館大）・吉川雅弥（名城大）・藤野 毅（立命館大） CPM2010-132 ICD2010-91 |
[more] | CPM2010-132 ICD2010-91 pp.49-54 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-30 09:50 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | ダイナミック光再構成型ゲートアレイの動的部分再構成の性能評価 ○グンジャラム アマルジャルガル・渡邊 実（静岡大） CPM2010-133 ICD2010-92 |
[more] | CPM2010-133 ICD2010-92 pp.55-60 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-30 10:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | ［招待講演］3次元LSIチップ積層集積技術に期待されるシステム性能の向上 ○青柳昌宏（産総研） CPM2010-134 ICD2010-93 |
シリコン基板に表から裏面に貫通する電極を形成して、マイクロバンプ接合により積層集積する3次元LSIチップ積層集積技術は、... [more] | CPM2010-134 ICD2010-93 pp.61-65 |
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