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信頼性研究会 (R)  (検索条件: 2007年度)

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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
R 2007-09-14
10:30
高知 高知工科大学 SEM中マイクロプラズマによる材料プロセス
大井秀宣岡崎康朗高橋那欣・○八田章光高知工科大R2007-29
走査型電子顕微鏡の低真空モードを用いて、試料近傍にマイクロサイズのガスノズルから局所的なガス供給を行ない、マイクロプラズ... [more] R2007-29
pp.1-4
R 2007-09-14
10:55
高知 高知工科大学 トランジスタ動作点解析による故障論理の追跡 ~ フィードバック故障による発振現象の取得 ~
真田 克中村朋矢橋田啓示高知工科大R2007-30
 [more] R2007-30
pp.5-10
R 2007-09-14
11:20
高知 高知工科大学 RC回路網による故障モデルの考案とトランジスタレベル故障診断試行
吉澤 豊NECエレクトロニクスR2007-31
RC回路網による故障モデルを考案した。 本モデルによりショート故障、抵抗性ショート/オープン故障、オープン故障とこれらの... [more] R2007-31
pp.11-16
R 2007-09-14
13:10
高知 高知工科大学 [招待講演]故障診断における欠陥モデルの動向 ~ チュートリアル ~
佐藤康夫日立R2007-32
LSI故障診断における故障モデルの動向を中心に最近の診断技術を紹介する.故障診断は,ATEにおけるテスト結果を最もよく説... [more] R2007-32
pp.17-22
R 2007-09-14
13:40
高知 高知工科大学 LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について
中村優介大和勇太温 暁青宮瀬紘平梶原誠司九工大)・K. K. サルージャウィスコンシン大R2007-33
LSIの微細化・高速化により,欠陥の振舞いは複雑化し,複数の欠陥が回路内に生じることが増えてきた.このような回路を精確に... [more] R2007-33
pp.23-28
R 2007-09-14
14:05
高知 高知工科大学 LSIテスタとデバイス間の伝送経路の評価とシミュレーションモデル化について
土屋秀和浅川 毅東海大)・佐藤正幸ジェネシス・テクノロジーR2007-34
近年,LSIの動作速度の高速化が進んでいる.それに伴って,LSIテスタとデバイス間の伝送経路の影響が無視できない状況にあ... [more] R2007-34
pp.29-34
R 2007-09-14
15:00
高知 高知工科大学 電子部品の故障解析および良品解析 ~ 車載用電子部品の信頼性向上のための取り組み ~
今井康雄田中大起沖エンジニアリングR2007-35
近年,車載用電子部品の重要は急速に高まり,電子部品の高機能・高性能化に伴い最先端プロセスを用いた半導体部品を使用するよう... [more] R2007-35
pp.35-39
R 2007-09-14
15:25
高知 高知工科大学 LSIの製造品質評価としての構造解析手法の活用
梶沼雅仁溝口 彰武内広一朗三菱電機R2007-36
一般産業用電子部品技術の進歩,特に半導体デバイスでは新技術の採用が目覚しいが,MIL規格部品はマーケットシェアが数%以下... [more] R2007-36
pp.41-44
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