研究会 - 集積回路研究会 (ICD) - 検索条件: 2004年度

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集積回路研究会 (ICD) (検索条件: 2004年度)

「from:2005-01-27 to:2005-01-27」による検索結果

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講演検索結果

登録講演（開催プログラムが公開されているもの） （日付・昇順）

研究会	発表日時	開催地		タイトル・著者	抄録	資料番号
ICD, CPM (共催)	2005-01-27 13:00	東京	機械振興会館	ＬＳＩ断線箇所診断手法 ○小宮泰麿・菊地修司（日立）・嶋瀬　朗・向川一也（ルネサステクノロジ）	近年の微細化や高集積化に伴い、LSIの断線不良箇所特定を目的に、LSIに変動電界を印加してオープンゲートを活性化し、発生... [more]	CPM2004-155 ICD2004-200 pp.1-6
ICD, CPM (共催)	2005-01-27 13:30	東京	機械振興会館	９０ｎｍデバイスのＬＶＰ測定容易性評価とLVP測定用素子の開発 ○野中淳平・和田慎一（NECエレクトロニクス）	90nm以降のプロセスでは、トランジスタサイズがLVPで使用されるレーザ波長の回折限界に到達するため、LVP測定が困難に... [more]	CPM2004-156 ICD2004-201 pp.7-12
ICD, CPM (共催)	2005-01-27 14:00	東京	機械振興会館	SILプレートによる高分解能故障解析 ○吉田岳司・小山　徹・小守純子・益子洋治（ルネサステクノロジ）	[more]	CPM2004-157 ICD2004-202 pp.13-17
ICD, CPM (共催)	2005-01-27 14:30	東京	機械振興会館	作りこみ欠陥を有する完成チップの走査レーザＳＱＵＩＤ顕微鏡による観測 ○酒井哲哉・二川　清（NECエレクトロニクス）	[more]	CPM2004-158 ICD2004-203 pp.19-24
ICD, CPM (共催)	2005-01-27 15:15	東京	機械振興会館	［特別招待講演］ULSIデバイス解析評価技術の現状と今後～ LSIの将来の生命線を握る解析技術～ ○益子洋治（ルネサステクノロジ）	[more]	CPM2004-159 ICD2004-204 pp.25-30
ICD, CPM (共催)	2005-01-27 16:15	東京	機械振興会館	レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察 ○山下将嗣・川瀬晃道・大谷知行（理研）・二川　清（NECエレクトロニクス）・斗内政吉（阪大）	[more]	CPM2004-160 ICD2004-205 pp.31-34
ICD, CPM (共催)	2005-01-27 16:45	東京	機械振興会館	Sn-Ag-X 鉛フリーはんだの高信頼性化への検討 ○雨海正純（日本テキサス・インスツルメンツ）・大西　司・田島　武（千住金属）	[more]	CPM2004-161 ICD2004-206 pp.35-38
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 09:00	東京	機械振興会館	サーバ・ルータ向け１０Ｇｂｐｓ伝送プロトタイプ柳生正義・山下寛樹・結城文夫・○川下達也・藤村康弘・高田芳文（日立）	サーバ・ルータ向けに開発した10Gbps伝送プロトタイプの構成と評価結果を報告する．消費電力100mW/chのインターフ... [more]	CPM2004-162 ICD2004-207 pp.1-6
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 09:30	東京	機械振興会館	高密度、多ピンパッケージにおける高信頼性確認手法と事例紹介 ○橋本修平・川口泰雅・羽二生　稔・松永俊博・松尾光永・川谷直子・樋口裕久・高橋貴彦（日立）	[more]	CPM2004-163 ICD2004-208 pp.7-11
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 10:00	東京	機械振興会館	高速ランダムアクセス混載 DRAM におけるパッケージ後の自動救済技術 ○中山　篤・行川敏正・伊藤　洋・和田　修・藤井秀壮（東芝）	[more]	CPM2004-164 ICD2004-209 pp.13-18
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 10:45	東京	機械振興会館	アナログ回路の故障診断手法の検討 ○久慈憲夫（八戸高専）	[more]	CPM2004-165 ICD2004-210 pp.19-24
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 11:15	東京	機械振興会館	RTL故障診断技術の実用化に向けた開発 ○二階堂正人・船津幸永（NECエレクトロニクス）	RTL故障診断として，Assignment Decision Diagram（ADD）を用いて，ADDのノードをBack... [more]	CPM2004-166 ICD2004-211 pp.25-30
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 11:45	東京	機械振興会館	故障診断のための観測性の定量化について ○豊田直哉・梶原誠司・温　暁青（九工大）・真田　克（NECエレクトロニクス）	現在の故障診断は，回路の外部出力とスキャンフリップフロップを観測点として行うことが多い．しかし，回路の大規模化により，こ... [more]	CPM2004-167 ICD2004-212 pp.31-34
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 13:30	東京	機械振興会館	テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について ○新谷道広・越智正邦・市原英行・井上智生（広島市大）	ハフマン符号などの可変長符号を用いたテストデータ圧縮・展開手法は，テスト実行時間の増加およびテスタメモリ不足の問題に対し... [more]	CPM2004-168 ICD2004-213 pp.35-40
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 14:00	東京	機械振興会館	順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について ○樋上喜信（愛媛大）・梶原誠司（九工大）・小林真也・高松雄三（愛媛大）	本稿では，順序回路のテスト系列に対して，縮退故障検出率を低下させることなく，ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提... [more]	CPM2004-169 ICD2004-214 pp.41-46
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 14:30	東京	機械振興会館	機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法 ○三浦克介・中前幸治・藤岡　弘（阪大）	[more]	CPM2004-170 ICD2004-215 pp.47-51
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 15:00	東京	機械振興会館	スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法 ○新井雅之・黒川晴申・市野憲一・福本　聡・岩崎一彦（都立大）	本稿では，複数のスキャンチェーンが存在するスキャンBISTに対する，LFSRの初期値とフェーズシフタの選択法について議論... [more]	CPM2004-171 ICD2004-216 pp.53-58
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 15:45	東京	機械振興会館	ホップフィールド連想記憶に対する学習に基づくフォールトトレランス強化 ○上浦尚武・礒川悌次郎・松井伸之（兵庫県立大）	本文では，ニューロン荷重縮退故障を仮定し，ホップフィールドニューラルネットワークで実現した連想記憶に対するフォールトトレ... [more]	CPM2004-172 ICD2004-217 pp.59-64
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 16:15	東京	機械振興会館	65nm時代以降のSoCデバイステスト技術～ Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法～ ○山崎　眞・古川靖夫（アドバンテスト）	高性能化するSoCデバイスにおける歩留まり向上とテスト品質の確保という課題を両立するため、デバイス毎に試験条件を最適化す... [more]	CPM2004-173 ICD2004-218 pp.65-70
ICD, CPM (共催)	2005-01-28 16:45	東京	機械振興会館	経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用 ○船津幸永・住友洋志・重田一樹・石山敏夫（NECエレクトロニクス）	近年の微細化・大規模化の進んだLSIにおいて、CADベースの故障診断技術は、故障解析を容易化できる技術として非常に重要な... [more]	CPM2004-174 ICD2004-219 pp.71-76

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