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機構デバイス研究会 (EMD) (検索条件: 2010年度)
「from:2011-01-28 to:2011-01-28」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMD | 2011-01-28 13:00 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | 炭素アーク電圧電流特性に関する一考察 ○須原啓一（東京高専）  EMD2010-135 |
誘導性回路における炭素電極開離アークの過渡的電圧・電流の推移を、炭素アーク電圧電流特性を使用して解析している。参照できる... [more] | EMD2010-135 pp.1-4 |
| EMD | 2011-01-28 13:25 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | 錫めっき摺動接点の三次元微細構造 ○伊藤哲也・荻原 茂・服部康弘（オートネットワーク技研） EMD2010-136 |
自動車用コネクタの接点の障害事例のひとつとして、微摺動摩耗による抵抗上昇がある。今回、我々は、FIB-SEMを用いた錫め... [more] | EMD2010-136 pp.5-10 |
| EMD | 2011-01-28 13:50 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | 錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定 ○増井壮志・澤田 滋・玉井輝雄（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研）・飯田和生（三重大） EMD2010-137 |
自動車用コネクタにおける錫めっき接点では、振動や冷熱サイクルによる微摺動現象により接触抵抗の上昇が観察される。微摺動摩耗... [more] | EMD2010-137 pp.11-16 |
| EMD | 2011-01-28 14:15 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | 錫めっき接点の形状と荷重に関する微摺動特性 ○田井富茂・古本哲也（日本航空電子） EMD2010-138 |
本論文は、錫めっき層の微摺動摩耗よる接触抵抗の上昇が、当社試験環境下において、接点の形状と荷重に依存し、ヘルツの接触理論... [more] | EMD2010-138 pp.17-21 |
| EMD | 2011-01-28 14:50 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | 同軸マルチコアPOFを用いた光回転リンクジョイントの構成法に関する研究 ○蒲 和也・川島 信（中部大）・川端俊介（伊原電子）・佐生誠司（旭化成イーマテリアルズ） EMD2010-139 |
近年，高速双方向デジタルリンクと互いに回転しているデバイスに電力伝送する機能を持ったものが監視カメラや，自動車，産業用ロ... [more] | EMD2010-139 pp.23-27 |
| EMD | 2011-01-28 15:15 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | 印刷銀配線板におけるイオンマイグレーション抑制におよぼす樹脂-クレイハイブリッド化合物の効果 ○大谷泰之・中島伸一郎（日本航空電子） EMD2010-140 |
近年の電子機器の小型化・薄型化に伴うプリント配線板の高密度化により，イオンマイグレーションによる絶縁故障が重要な問題のひ... [more] | EMD2010-140 pp.29-34 |
| EMD | 2011-01-28 15:40 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(1) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳 国男・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-141 |
著者らは，ハンマリング加振機構(HOM)，摺動接触機構(SCM)，および３次元加振機構(3DOM)によって外部微小振動が... [more] | EMD2010-141 pp.35-40 |
| EMD | 2011-01-28 16:05 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(2) ～ ○越田圭治・和田真一・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-142 |
著者らは，専用のステージが必要なく，また，ある程度の定量性をもつ，ハンディな"タッピング・デバイス(TPD)"を開発し試... [more] | EMD2010-142 pp.41-46 |
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