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機構デバイス研究会 (EMD) (検索条件: 2008年度)
「from:2008-07-18 to:2008-07-18」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMCJ, EMD (共催) |
2008-07-18 12:25 |
東京 | 機械振興会館 | 位相中心位置を考慮したダブルリッジガイドホーンアンテナの利得の決定 ○張間勝茂（NICT）  EMCJ2008-40 EMD2008-22 |
1GHz以上のEMI測定に使用するアンテナの校正は、一般に、自由空間での３アンテナ法を用いて行われる。開口面アンテナを校... [more] | EMCJ2008-40 EMD2008-22 pp.1-4 |
| EMCJ, EMD (共催) |
2008-07-18 12:50 |
東京 | 機械振興会館 | 導波管貫通法による手指の複素誘電率測定装置の確度検討 ○齋藤 光・香西将樹・青柳貴洋（東工大）・西方敦博（東工大/NICT）・渡邉聡一（NICT） EMCJ2008-41 EMD2008-23 |
[more] | EMCJ2008-41 EMD2008-23 pp.5-10 |
| EMCJ, EMD (共催) |
2008-07-18 13:15 |
東京 | 機械振興会館 | DFFCを用いた薄膜試料の面抵抗値の推定法 ○登坂俊英（NICT）・西方敦博（東工大/NICT）・福永 香・山中幸雄（NICT）・吉村慶之（石川工試） EMCJ2008-42 EMD2008-24 |
[more] | EMCJ2008-42 EMD2008-24 pp.11-14 |
| EMCJ, EMD (共催) |
2008-07-18 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | ICの伝導イミュニティ特性測定と回路解析の連携による静電気放電に対するプリント回路基板のイミュニティ評価 ○白木康博（三菱電機） EMCJ2008-43 EMD2008-25 |
本稿では，設計段階で適用できるESD評価手法として，ICの伝導イミュニティ特性測定と回路解析を連携した解析手法を提案し，... [more] | EMCJ2008-43 EMD2008-25 pp.15-20 |
| EMCJ, EMD (共催) |
2008-07-18 14:15 |
東京 | 機械振興会館 | 人体ESDに適用する火花抵抗則の検証 ○高 義礼・藤原 修（名工大） EMCJ2008-44 EMD2008-26 |
近年のICの高速・低消費電力化により，静電気放電（ESD: Electrostatic discharge）が引き起こす... [more] | EMCJ2008-44 EMD2008-26 pp.21-26 |
| EMCJ, EMD (共催) |
2008-07-18 14:40 |
東京 | 機械振興会館 | 1kV以下のマイクロギャップ放電に伴う放射電磁波強度の実験的検討 ○川又 憲（八戸工大）・嶺岸茂樹・芳賀 昭（東北学院大）・藤原 修（名工大） EMCJ2008-45 EMD2008-27 |
あらまし ESD（静電気放電）あるいは電気接点放電などのうち、おおよそ1000V以下の比較的に低い電圧によって生じるマイ... [more] | EMCJ2008-45 EMD2008-27 pp.27-30 |
| EMCJ, EMD (共催) |
2008-07-18 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | 導体で発生する3次相互変調ひずみのFDTD解析 ○石橋大二郎・久我宣裕（横浜国大） EMCJ2008-46 EMD2008-28 |
導体のマイクロ波帯相互変調ひずみ特性に関する解析手法として，電流による非線形電界を考慮したFDTD法を提案している．本報... [more] | EMCJ2008-46 EMD2008-28 pp.31-36 |
| EMCJ, EMD (共催) |
2008-07-18 15:40 |
東京 | 機械振興会館 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 加振機構のモデリング(その2) ～ ○和田真一・越田圭治・園田健人・峯岸寛人・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大） EMCJ2008-47 EMD2008-29 |
電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した．... [more] | EMCJ2008-47 EMD2008-29 pp.37-42 |
| EMCJ, EMD (共催) |
2008-07-18 16:05 |
東京 | 機械振興会館 | 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) ～ 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係 ～ ○宮永和明・萓野良樹（秋田大）・高木 相（東北大名誉教授）・井上 浩（秋田大） EMCJ2008-48 EMD2008-30 |
電気接点の開離初期現象と物性値の関係は未だ不明な部分が多い．そこで，本報告では接触電圧の時間変化を知るために銀パラジウム... [more] | EMCJ2008-48 EMD2008-30 pp.43-48 |
| EMCJ, EMD (共催) |
2008-07-18 16:30 |
東京 | 機械振興会館 | 直流42V/7-21A回路内の電気接点対間で発生する開離時アークの小形磁石による磁界駆動 ○関川純哉・窪野隆能（静岡大） EMCJ2008-49 EMD2008-31 |
直流42Vの抵抗性負荷回路において、通電中の銀接点対を一定の速度で開離し、開離時アーク放電を発生させた。その開離時アーク... [more] | EMCJ2008-49 EMD2008-31 pp.49-54 |
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