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機構デバイス研究会 (EMD) (検索条件: 2008年度)
「from:2008-05-16 to:2008-05-16」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMD | 2008-05-16 13:30 |
北海道 | 千歳アルカディア・プラザ | 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 3D加振機構の基本特性 ～ ○和田真一・天尾 裕・越田圭治・園田健人・峯岸寛人・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大）  EMD2008-5 |
我々は，前報までで，鉛直方向にハンマリング加振を行なう機構によって，さらには摺動接触機構によって，電気接点に実用的振動を... [more] | EMD2008-5 pp.1-6 |
| EMD | 2008-05-16 13:55 |
北海道 | 千歳アルカディア・プラザ | コンタクト開離時アークの金属と気体分子スペクトルの分光測定 ～ 銀と銀合金コンタクトのスペクトル強度 ～ ○吉田 清・黒坂竜也（日本工大） EMD2008-6 |
[more] | EMD2008-6 pp.7-12 |
| EMD | 2008-05-16 14:20 |
北海道 | 千歳アルカディア・プラザ | Pdコンタクトにおける接触電圧のステップ的変化の観察 ○佐々木俊介・石田広幸・鈴木祥介・谷口正成・高木 相（東北文化学園大） EMD2008-7 |
これまで、片持ち梁を用いた高精度に位置を決められる装置によってコンタクトを低速で動かし、コンタクト同士が接触した瞬間に電... [more] | EMD2008-7 pp.13-18 |
| EMD | 2008-05-16 14:55 |
北海道 | 千歳アルカディア・プラザ | 共焦点光学系を利用したサンプル表面の高さ計測システムの試作 ○長谷川 誠（千歳科技大） EMD2008-8 |
卒業研究の一環として、共焦点光学系を用いてサンプル表面の高さの３次元的評価を行うことができる独自のサンプル形状評価システ... [more] | EMD2008-8 pp.19-24 |
| EMD | 2008-05-16 15:20 |
北海道 | 千歳アルカディア・プラザ | 抵抗の線形性 ～ 抵抗器の電気ひずみ測定 ～ ○箕輪 功・井出裕二・金子峻輔（玉川大） EMD2008-9 |
[more] | EMD2008-9 pp.25-30 |
| EMD | 2008-05-16 15:45 |
北海道 | 千歳アルカディア・プラザ | IEC TC86 JWG9における光配線板の標準化動向 ○小林潤也・長瀬 亮（NTT） EMD2008-10 |
[more] | EMD2008-10 pp.31-36 |
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