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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2010年度)
「from:2011-02-14 to:2011-02-14」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2011-02-14 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | メモリテストプロセッサを用いたDDR3メモリモジュールテスタの開発 ○浅川 毅・松埜 智（東海大）・土屋秀和（日立ハイテクエンジニアリングサービス）・関 達也・熊澤慎一（テクニカ）  DC2010-59 |
メモリモジュールメーカでは，品質を保証するために製造したメモリモジュールをテストする必要がある．しかし，市販されているメ... [more] | DC2010-59 pp.1-6 |
| DC | 2011-02-14 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定 ○坂井僚太・宮瀬紘平・温 暁青（九工大）・麻生正雄・古川 寛（ルネサス マイクロシステム）・大和勇太（福岡県産業・科学技術振興財団）・梶原誠司（九工大） DC2010-60 |
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は，LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし，歩留り低下の... [more] | DC2010-60 pp.7-12 |
| DC | 2011-02-14 11:00 |
東京 | 機械振興会館 | 製造ばらつきを考慮したフィールドテストのためのクリティカルパス解析 ○柏崎智史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-61 |
近年，製造テストで正常VLSIと判定され，出荷後のフィールド上で経年劣化の結果微小な遅延が発生し，不良VLSIとなるもの... [more] | DC2010-61 pp.13-19 |
| DC | 2011-02-14 11:25 |
東京 | 機械振興会館 | 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ ○新谷道広・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター） DC2010-62 |
LSI の微細化と高速化に伴い，プロセスばらつきの影響でチップのスペックを超えてしまうパラメトリック不良の増大が懸念され... [more] | DC2010-62 pp.21-26 |
| DC | 2011-02-14 11:50 |
東京 | 機械振興会館 | テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法 ○小副川絵美子・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大/JST） DC2010-63 |
LSIのフィールド使用時における劣化検知は，LSIの品質や信頼性を保証するための重要な技術である．劣化は遅延値の増加とし... [more] | DC2010-63 pp.27-32 |
| DC | 2011-02-14 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | 高精度遅延テストのためのテストパターン生成法 ○堀 慧悟（奈良先端大）・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大/JST） DC2010-64 |
本研究では，システムクロックより速い複数のテストクロックを用いて，微小遅延を検出するテスト手法を提案する．半導体の製造プ... [more] | DC2010-64 pp.33-38 |
| DC | 2011-02-14 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的時間展開モデルを用いたデータパス回路のテスト生成法 ○早川鉄平・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-65 |
近年，より抽象度の高い動作記述を用いて大規模集積回路の設計が行われている．動作記述から動作合成を用いて生成されるレジスタ... [more] | DC2010-65 pp.39-44 |
| DC | 2011-02-14 14:35 |
東京 | 機械振興会館 | 欠陥検出テストのためのテストパターン選択 ○古谷博司・酒井孝郎・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2010-66 |
微細化加工技術の進展に伴って，配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている．そのため，従来の縮退故障およ... [more] | DC2010-66 pp.45-50 |
| DC | 2011-02-14 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | 一次元FPGAアレイから二次元アレイに拡張したCIP回路 ○黎 江・高橋健一・田向 権・関根優年（東京農工大） DC2010-67 |
HPC 向けの計算機の多くは演算素子に汎用プロセッサを用いている．近年，特定の計算をアクセラレートするコプロセッサを搭載... [more] | DC2010-67 pp.51-56 |
| DC | 2011-02-14 15:40 |
東京 | 機械振興会館 | ノイズパルスを考慮したデュアルエッジトリガフリップフロップの提案 ○三浦幸也（首都大東京） DC2010-68 |
通常のエッジトリガフリップフロップは単一のクロックエッジを使ってデータを取込むため，エッジ近傍にノイズパルスが発生すると... [more] | DC2010-68 pp.57-62 |
| DC | 2011-02-14 16:05 |
東京 | 機械振興会館 | 再構成可能オンチップデバッグ回路の面積削減に関する一考察 新井雅之・○田畑嘉裕・岩崎一彦（首都大東京） DC2010-69 |
本稿では，再構成可能なオンチップデバッグ回路について，その面積オーバヘッドと，観測回路の挿入箇所による故障観測性の変化に... [more] | DC2010-69 pp.63-68 |
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