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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2010年度)
「from:2010-06-25 to:2010-06-25」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2010-06-25 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | C素子スキャンパスを用いた非同期式順序回路に対する完全スキャン設計法 ○岩田大志・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大）  DC2010-8 |
VLSIの大規模，高速化に伴い，大域クロックの分配が困難になるなどの問題が顕在化しており， それらの問題を解決する手段... [more] |
DC2010-8 pp.1-6 |
| DC | 2010-06-25 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察 ○岡 伸也・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2010-9 |
無閉路可検査順序回路は実用的にテスト容易な順序回路である． その1つのクラスとして部分スルー可検査順序回路があり，順序... [more] |
DC2010-9 pp.7-11 |
| DC | 2010-06-25 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | ロバストテスト可能データパスを指向した高位合成におけるバインディング法 ○吉川祐樹・丸谷 瞬・市原英行・井上智生（広島市大） DC2010-10 |
[more] | DC2010-10 pp.13-18 |
| DC | 2010-06-25 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | ランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を用いたBASTアーキテクチャにおけるテストパターンマッチング法 ○陳 贇・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-11 |
LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more] | DC2010-11 pp.19-24 |
| DC | 2010-06-25 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | 実チップデバッグ手法における観測回路の挿入箇所および面積に関する一検討 ○新井雅之・田畑嘉裕・岩崎一彦（首都大東京） DC2010-12 |
[more] | DC2010-12 pp.25-30 |
| DC | 2010-06-25 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | 製造後デバッグのための入出力シーケンススライシング手法 ○李 蓮福・松本剛史・藤田昌宏（東大） DC2010-13 |
[more] | DC2010-13 pp.31-36 |
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