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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2008年度)
「from:2009-02-16 to:2009-02-16」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2009-02-16 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | 故障の許容性に基づく閾値テスト生成アルゴリズムの高速化 ○中島佑介・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）  DC2008-68 |
[more] | DC2008-68 pp.1-6 |
| DC | 2009-02-16 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法 吉村正義（九大）・○小河宏志（日大）・大森悠翔（富士通マイクロエレクトロニクス）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2008-69 |
スキャンテストは，VLSIのテスト方式として広く普及しているが，回路構造の情報のみを利用したテスト法で，シフト動作によっ... [more] | DC2008-69 pp.7-12 |
| DC | 2009-02-16 10:50 |
東京 | 機械振興会館 | SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化 ○秋山祐介・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2008-70 |
近年，VLSIのテストではより100％の故障検出効率が求められている．しかしながら，VLSIの大規模化や複雑化に伴い，検... [more] | DC2008-70 pp.13-18 |
| DC | 2009-02-16 11:30 |
東京 | 機械振興会館 | 算盤アーキテクチャを用いた10進加算器とその剰余演算への応用 ○飯島唯仁・魏 書剛（群馬大） DC2008-71 |
従来、10進数を計算機上で扱うときは、BCD数表現が用いられる。それはBCD数を用いることによって、10進数の演算回路を... [more] | DC2008-71 pp.19-23 |
| DC | 2009-02-16 11:55 |
東京 | 機械振興会館 | 高信頼度ボランティアコンピューティングのためのヒストリ情報を用いたスケジューリング手法 ○藤田 諒・渡邊 寛・福士 将・堀口 進（東北大） DC2008-72 |
[more] | DC2008-72 pp.25-30 |
| DC | 2009-02-16 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 ○高橋 寛・樋上喜信・和泉太佑・相京 隆・高松雄三（愛媛大） DC2008-73 |
微細化加工技術の進展に伴って，配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている． そのため，品質保証のため... [more] |
DC2008-73 pp.31-36 |
| DC | 2009-02-16 14:15 |
東京 | 機械振興会館 | 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて ○渡部哲也・高橋 寛・樋上喜信（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・高松雄三（愛媛大） DC2008-74 |
配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線（オープン）の欠陥によって生じる故障が顕在化している. オープン故... [more] |
DC2008-74 pp.37-42 |
| DC | 2009-02-16 14:40 |
東京 | 機械振興会館 | ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル ○新井雅之・周藤明史・岩崎一彦（首都大東京）・中野勝幸・新谷道広・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター） DC2008-75 |
[more] | DC2008-75 pp.43-48 |
| DC | 2009-02-16 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | 検出容易故障に着目したドントケア数増加手法 ～ BASTアーキテクチャへの適用 ～ ○万 玲玲・若園大洋・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2008-76 |
LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組み込み自己テストと自動テスト生成を組... [more] | DC2008-76 pp.49-54 |
| DC | 2009-02-16 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | RTLパス数最小化のためのリソースバインディング法 ○植本雄一・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2008-77 |
VLSI回路中の微小遅延を検出するテスト手法としてパス遅延故障テストがあるが，回路中の全パス数が膨大であるなど実用上の問... [more] | DC2008-77 pp.55-60 |
| DC | 2009-02-16 16:10 |
東京 | 機械振興会館 | A Secure Scan Design Approach using Extended de Bruijn Graph Hideo Fujiwara・○Marie Engelene J. Obien（NAIST） DC2008-78 |
[more] | DC2008-78 pp.61-66 |
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