お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催スケジュール
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
    [Japanese] / [English] 
研究会名/開催地/テーマ  )→
 
講演検索  検索語:  /  範囲:題目 著者 所属 抄録 キーワード )→

ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC)  (検索条件: 2007年度)

「from:2008-02-08 to:2008-02-08」による検索結果

[ディペンダブルコンピューティング研究会ホームページへ] 
講演検索結果
 登録講演(開催プログラムが公開されているもの)  (日付・昇順)
 18件中 1~18件目  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2008-02-08
09:00
東京 機械振興会館 CMOS LSIのESD/Latch-Up故障の解析 ~ 実データでの故障モード解析 ~
小日向秀雄新井雅之福本 聡首都大東京DC2007-67
CMOS LSIの微細化が進む中、CMOS構造の弱点であるESD/Latch-up故障が大きな問題となっている。本発表は... [more] DC2007-67
pp.1-5
DC 2008-02-08
09:25
東京 機械振興会館 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法
高橋 寛樋上喜信相京 隆門山周平・○渡部哲也高松雄三愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2007-68
配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している.
本稿では,... [more]
DC2007-68
pp.7-12
DC 2008-02-08
09:50
東京 機械振興会館 遷移故障に対する診断用テスト生成法
相京 隆愛媛大/半導体理工学研究センター)・樋上喜信高橋 寛・○吉川 達高松雄三愛媛大DC2007-69
半導体デバイスの微細化・高速化に伴い,
動作タイミングに影響を与える遅延故障に対する故障診断の要求が高まってきている.... [more]
DC2007-69
pp.13-18
DC 2008-02-08
10:25
東京 機械振興会館 マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成
大森悠翔・○小河宏志細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大DC2007-70
スキャンテストは,VLSIのテスト方式として広く普及しているが,回路構造の情報のみを利用したテスト法で,シフト動作によっ... [more] DC2007-70
pp.19-24
DC 2008-02-08
10:50
東京 機械振興会館 故障活性化率向上のための可変n回テスト生成法とその品質評価に関する研究
冨田 健細川利典日大)・山崎浩二明大DC2007-71
高品質なテストパターンの生成法の1つとして,n回検出テスト生成法が知られている.しかしながら,n回検出テスト集合の定義に... [more] DC2007-71
pp.25-31
DC 2008-02-08
11:15
東京 機械振興会館 スキャンベースハイブリッドBISTにおける消費電力削減に関する一考察
周藤明史新井雅之岩崎一彦首都大東京DC2007-72
 [more] DC2007-72
pp.33-38
DC 2008-02-08
11:40
東京 機械振興会館 平衡構造を利用した安全なスキャン設計
長谷川宗士井上美智子藤原秀雄奈良先端大DC2007-73
暗号回路といった秘密情報を内部に持つ回路に対するスキャン設計を利用したサイドチャネル攻撃に耐性のある安全なスキャン設計法... [more] DC2007-73
pp.39-44
DC 2008-02-08
13:00
東京 機械振興会館 二線式論理を用いたFPGAのソフトエラーに対するフォールトセキュア性
三浦健宏難波一輝伊藤秀男千葉大DC2007-74
近年,回路の微細化,高集積化に伴いソフトエラー発生率が増加している.ソフトエラーが記憶素子に発生した場合,新しい値が書き... [more] DC2007-74
pp.45-50
DC 2008-02-08
13:25
東京 機械振興会館 C素子展開に基づく2線2相式回路のテスト生成法(口頭発表)
竹ヶ原正晃岩垣 剛金子峰雄北陸先端大
 [more]
DC 2008-02-08
13:50
東京 機械振興会館 演算規則を用いたフォールトセキュアデータパスの合成について
塩道寛貴吉川祐樹市原英行井上智生広島市大DC2007-75
平行誤り検出によるフォールトセキュアデータパスの合成法について考察する.
文献 [2] で示された低エイリアス確率の条... [more]
DC2007-75
pp.51-56
DC 2008-02-08
14:15
東京 機械振興会館 スキャンパス攻撃を考慮した暗号LSIのテスタビリティ評価
伊藤侑磨吉村正義安浦寛人九大DC2007-76
セキュリティ対策,著作権保護の観点などから,現在様々なデジタル製品には暗号LSIが搭載されている.暗号LSIを含む現在の... [more] DC2007-76
pp.57-62
DC 2008-02-08
14:50
東京 機械振興会館 高位合成情報を用いたRTLフォールスパス判定
池田直嗣大竹哲史井上美智子藤原秀雄奈良先端大DC2007-77
本稿では,高位合成情報を用いたRTLフォールスパスの判定方法を提案する.フォールスパス情報を利用することは,テスト生成時... [more] DC2007-77
pp.63-68
DC 2008-02-08
15:15
東京 機械振興会館 テスト長制約下での欠陥検出向上のための状態可観測なFSMのテスト生成法
井上諒一細川利典日大)・藤原秀雄奈良先端大DC2007-78
我々は,オーバーテストやアンダーテストを抑制するために,状態可観測な状態遷移機械(FSM)の論理故障テストやタイミング故... [more] DC2007-78
pp.69-76
DC 2008-02-08
15:40
東京 機械振興会館 テストパターンの静的圧縮における厳密解と貪欲解の比較
八木澤 圭山崎浩二明大)・細川利典日大)・玉木久夫明大DC2007-79
本稿ではドントケアに基づく静的テストパターン圧縮をクリーク被覆問題や頂点彩色問題として定式化し,厳密解法と貪欲解法による... [more] DC2007-79
pp.77-82
DC 2008-02-08
16:05
東京 機械振興会館 ATPGベクトルを利用したTPGの電流評価
土屋秀和阿部高也浅川 毅東海大DC2007-80
近年,LSIデバイスの動作速度の高速化や回路の大規模化が進んでいる.それに伴って,テスト時の消費電力が問題となっている.... [more] DC2007-80
pp.83-88
DC 2008-02-08
16:30
東京 機械振興会館 ばらつきを考慮した無線送信回路のテストに関する一考察
遠藤辰朗新井雅之岩崎一彦首都大東京DC2007-81
RF 用 IC の高集積化,回路の複雑化と共に,そのテストも課題となってきている. RF 送信回路は,データレート毎に定... [more] DC2007-81
pp.89-94
DC 2008-02-08
16:55
東京 機械振興会館 複数の観測トランジスタとデータサンプリングを使用したアナログ回路の診断
加藤二郎三浦幸也首都大東京DC2007-82
アナログ回路の故障診断法として、X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用した故障診断法が提案されている。X-Yゾーン法は、回... [more] DC2007-82
pp.95-100
DC 2008-02-08
17:20
東京 機械振興会館 周期信号の自己訂正法
三浦幸也首都大東京DC2007-83
回路内に発生したノイズなどの影響により周期的な信号の信号幅が変化すると,誤ったデータの取り込みなど,同期式回路の誤動作を... [more] DC2007-83
pp.101-106
 18件中 1~18件目  /   
ダウンロード書式の初期値を指定してください NEW!!
テキスト形式 pLaTeX形式 CSV形式 BibTeX形式
著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会