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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC)  (検索条件: 2019年度)

「from:2020-02-26 to:2020-02-26」による検索結果

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講演検索結果
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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2020-02-26
10:00
東京 機械振興会館 機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上について
権藤昌之三宅庸資梶原誠司九工大DC2019-86
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため,リングオシレータ(RO: Ring Oscillator)を利用したデ... [more] DC2019-86
pp.1-6
DC 2020-02-26
10:25
東京 機械振興会館 畳み込みニューラルネットワークを活用したLSIテスト不良予測
岡 龍之介大竹哲史大分大)・熊木光一ルネサス エレクトロニクスDC2019-87
近年,LSI は高集積化技術の発展や低価格化を要因として信頼性を保証するテストに関するコストが増大している.これまでに,... [more] DC2019-87
pp.7-12
DC 2020-02-26
10:50
東京 機械振興会館 機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討
中西遼太郎四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2019-88
 [more] DC2019-88
pp.13-18
DC 2020-02-26
11:35
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法
青野智己中岡典弘周 細紅王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2019-89
車載システムの機能安全を保障するためには,システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である... [more] DC2019-89
pp.19-24
DC 2020-02-26
12:00
東京 機械振興会館 n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法
竹内勇希細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2019-90
近年,VLSIの微細化,高速化にともない,遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている.しか... [more] DC2019-90
pp.25-30
DC 2020-02-26
12:25
東京 機械振興会館 アンロールドアーキテクチャを利用したグリッチPUFとその評価
野崎佑典吉川雅弥名城大DC2019-91
Large Scale Integration(LSI)の認証技術として,Physically Unclonable F... [more] DC2019-91
pp.31-36
DC 2020-02-26
14:10
東京 機械振興会館 パーシャルMaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア判定・割当て同時最適化法
三澤健一郎細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2019-92
近年,実速度スキャンテストにおいて,過度なキャプチャ時消費電力の発生が問題視されている.キャプチャ時消費電力を削減するた... [more] DC2019-92
pp.37-42
DC 2020-02-26
14:35
東京 機械振興会館 メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究
児玉優也宮瀬紘平高藤大輝温 暁青梶原誠司九工大DC2019-93
LSIのテスト時は,通常動作時と比べて消費電力が大きくなる.過度なIRドロップは,過度な遅延値を引き起こし,特に実速度テ... [more] DC2019-93
pp.43-48
DC 2020-02-26
15:00
東京 機械振興会館 LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究
史 傑宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大DC2019-94
LSI テスト時は,通常動作より多くの信号値遷移が起こることで過度なIRドロップが発生し,LSI回路内部の信号伝搬遅延時... [more] DC2019-94
pp.49-54
DC 2020-02-26
15:45
東京 機械振興会館 FPGAに実装したリング発振器の長時間動作時の周波数変化
堤 信吾三浦幸也首都大東京DC2019-95
FPGA(Field Programmable Gate Array)とは,ユーザが設計した論理機能を何度も書き換えて実... [more] DC2019-95
pp.55-60
DC 2020-02-26
16:10
東京 機械振興会館 網羅的パス解析による高精度な再利用FPGA検出手法
新谷道広アフメド フォイサル井上美智子奈良先端大DC2019-96
 [more] DC2019-96
pp.61-66
DC 2020-02-26
16:35
東京 機械振興会館 耐電源ノイズ用ラッチのソフトエラー耐性
木下湧矢三浦幸也首都大東京DC2019-97
近年,VLSI回路の微細化や電源電圧の低下に伴い,ソフトエラーによる信頼性の低下が問題となっている.ソフトエラーの影響は... [more] DC2019-97
pp.67-72
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