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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2013年度)
「from:2013-06-21 to:2013-06-21」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2013-06-21 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法 ○兒玉雄佑・西間木 淳・増田哲也・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大）  DC2013-10 |
近年，LSIの設計生産性の向上とテストコスト削減のため，動作合成においてデータパスのテスト容易化合成が提案されている．提... [more] | DC2013-10 pp.1-6 |
| DC | 2013-06-21 14:15 |
東京 | 機械振興会館 | 制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法 ○森保孝憲・大竹哲史（大分大） DC2013-11 |
本稿では，LFSRを用いたスキャンBISTのリシード向けの新しいLFSRシード生成法を提案する．従来のシード生成法は，テ... [more] | DC2013-11 pp.7-12 |
| DC | 2013-06-21 14:45 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドにおけるLSI劣化テストの可能性に関する一考察 ○佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2013-12 |
近年の電子機器に組み込まれたLSIは極めて高い信頼性を要求されている．しかしBTI（Bias Temperature I... [more] | DC2013-12 pp.13-18 |
| DC | 2013-06-21 15:30 |
東京 | 機械振興会館 | インタラクションテストにおける故障ペアを特定可能なテストケース集合生成方法の提案 ○永元雄宙・小島英春・土屋達弘（阪大） DC2013-13 |
本研究では，ソフトウェアのインタラクションテストにおいて， テストの実行結果からその原因である故 障インタラクションを... [more] |
DC2013-13 pp.19-23 |
| DC | 2013-06-21 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | バウンダリスキャンと組み込み再構成可能ハードウェアを用いたSOCのオンラインインターコネクトテスト法 ○加藤健太郎（鶴岡高専） DC2013-14 |
本研究ではバウンダリスキャンと組み込み再構成可能ハードウェアを用いたSOCのオンラインインターコネクトテスト法を提案する... [more] | DC2013-14 pp.25-29 |
| DC | 2013-06-21 16:30 |
東京 | 機械振興会館 | リング発振器を用いたトランジスタの劣化推定法 ○池田龍史・三浦幸也（首都大東京） DC2013-15 |
ナノスケールのトランジスタではNegative Bias Temperature Instability（NBTI）やP... [more] | DC2013-15 pp.31-36 |
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