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★信頼性研究会(R)
専門委員長 土肥 正 (広島大)  副委員長 門田 靖 (リコー)
幹事 岡村 寛之 (広島大), 井上 真二 (関西大)
幹事補佐 横川 慎二 (電通大), 吉川 隆英 (富士通研), 作村 建紀 (法政大)

日時 2021年10月22日(金) 13:00~16:15

会場 オンライン開催

議題 情報通信システムの信頼性,信頼性一般

10月22日(金) 午後 (13:00~16:15)

(1) 13:00 - 13:25
Adversarial Attack Against COVID-19 CT Images Deep Learning System
○Li Yang・Liu Ai・Liu Shaoying(HU)

(2) 13:25 - 13:50
A systematic method for identifying safety-related faults in formal specifications using FTA
○Jiang Wen*・Liu Shaoying*・Liu Ai*(HU)

(3) 13:50 - 14:15
Hawkes過程を用いた力士の休場モデリングと休場予測
○太田修平(神奈川大)・木村光宏(法政大)

−−− 休憩 ( 10分 ) −−−

(4) 14:25 - 15:25
[招待講演]左切断・右打ち切りのあるフィールド寿命データ解析 ~ パラメトリックモデルに基づく統計的推論と信頼性の予測 ~
○江村剛志(久留米大)・道前洋史(北里大)

(5) 15:25 - 15:50
A Note on Sensitivity Analysis of Software Rejuvenation Model with Markov Regenerative Process
○Junjun Zheng(Ritsumeikan Univ.)・Hiroyuki Okamura・Tadashi Dohi(Hiroshima Univ.)

(6) 15:50 - 16:15
ユーザビリティエラー分析に関する一考察
松原浩子・○岡村寛之・土肥 正(広島大)

一般講演:発表 20 分 + 質疑応答 5 分

◆日本信頼性学会,IEEE Reliability Society Japan Chapter共催


☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

11月30日(火) オンライン開催 [9月14日(火)] テーマ:半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般
12月4日(土) オンライン開催 [10月14日(木)] テーマ:信頼性国際規格,保全性,信頼性一般,安全性一般

【問合先】
井上 真二(関西大)
E-mail: ini-u


Last modified: 2021-08-18 11:44:49


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