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★機構デバイス研究会(EMD)
専門委員長 吉田 清 (日本工大)  副委員長 長谷川 誠 (千歳科技大)
幹事 関川 純哉 (静岡大), 久我 宣裕 (横浜国大)
幹事補佐 服部 康弘 (住友電装)

★信頼性研究会(R)
専門委員長 海生 直人 (広島修道大)  副委員長 渡邉 均 (東京理科大)
幹事 木村 光宏 (法政大), 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事補佐 安里 彰 (富士通), 田村 信幸 (防衛大)

日時 2011年 2月18日(金) 13:00~17:10

会場 静岡大学 浜松キャンパス 佐鳴会館(〒432-8561 浜松市中区城北3-5-1.JR浜松駅からバス20分.http://www.eng.shizuoka.ac.jp/outlines/p07/.工学部 電気電子工学科 関川純哉.053-478-1618)

議題 機構デバイスの信頼性、信頼性一般(共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN)

2月18日(金) 午後 (13:00~17:10)

−−− 委員長挨拶 ( 5分 ) −−−

(1) 13:05 - 13:30
電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について
○玉井輝雄・澤田 滋(三重大)・服部康弘(オートネットワーク技研)

(2) 13:30 - 13:55
発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察
○筑地茂樹・澤田 滋・玉井輝雄(三重大)・服部康弘(オートネットワーク技研)・飯田和生(三重大)

(3) 13:55 - 14:20
揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討
○長谷川 誠・小林菜々絵(千歳科技大)・河野良行(カネカ)

(4) 14:20 - 14:45
開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定
○山梨洋平・宮司勝吉・関川純哉(静岡大)・窪野隆能(静岡大名誉教授)

−−− 休憩 ( 15分 ) −−−

(5) 15:00 - 15:25
IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出
○坂本俊輔・眞田 克(高知工科大)

(6) 15:25 - 15:50
開放故障に伴う不安定論理の固定化
○安富泰輝・眞田 克(高知工科大)

(7) 15:50 - 16:15
初期故障率に基づく電子部品の統計的品質管理
○松岡敏成(三菱電機)

(8) 16:15 - 16:40
定量位相差顕微鏡を用いた発熱計測技術の開発
○中村共則・岩井秀直・山内豊彦・寺田浩敏(浜松ホトニクス)

(9) 16:40 - 17:05
Ni上Snめっき層のへら状成長物の要因とはんだ溶解性一考察
○伊藤貞則(イトケン事務所)・鈴木雅史(オムロン)

−−− 閉会挨拶 ( 5分 ) −−−

一般講演:発表 20 分 + 質疑応答 5 分

◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛


☆EMD研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

3月4日(金) 日本工業大学 [1月17日(月)] テーマ:卒論・修論特集(ショートノート)
4月 休会
5月20日(金) 東北大学 サイバーサイエンスセンター [3月17日(木)] テーマ:一般

【問合先】
長谷川 誠(千歳科学技術大学)
TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059
E-mail: pn
関川 純哉(静岡大学)
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E-mail: tjkipc
服部 康弘(住友電装)
TEL (059)382-8970、FAX (059)382-8591
E-mail: -tsws

◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。

☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

4月22日(金) 機械振興会館 [2月18日(金)] テーマ:光部品・光デバイスの実装・信頼性、一般
5月13日(金) 高知市文化プラザ「かるぽーと」 [3月21日(月)] テーマ:LSIを含む電子デバイスの評価・解析・診断,および信頼性一般

【問合先】
木村光宏(法政大学)
TEL 042-387-6116
FAX 042-387-6126
E-mail: mi


Last modified: 2011-01-26 18:55:44


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