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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 木村 光宏 (法政大)
副委員長 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)
幹事補佐 田村 信幸 (法政大)， マラット ザニケエフ (九工大)

日時 2013年11月14日(木)　14:00 - 16:30
議題 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般 
会場名 中央電気倶楽部 
住所 〒530-0004 大阪市北区堂島浜2丁目1番25号
交通案内 http://www.chuodenki-club.or.jp/map/map.html
会場世話人
連絡先		 杉谷全令
０６－６３４５－６３５１
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

11月14日(木) 午後 
14:00 - 16:30
(1) 14:00-14:25 故障解析をサポートする最新のエックス線技術 ～ エックス線検査の基礎から応用まで、革新技術による観察応用事例 ～ R2013-74 ○夏原正仁（島津製作所）
(2) 14:25-14:50 ロックインサーモグラフィによる効率的な非破壊故障箇所の同定 R2013-75 ○長友俊信（DCGシステムズ）
(3) 14:50-15:15 熱衝撃Snウィスカの成長に及ぼす板状のNi-Sn金属間化合物の影響 R2013-76 ○斎藤　彰・岡本　朗・岩堀禎浩・小川　誠（村田製作所）・元木章博（鯖江村田製作所）
(4) 15:15-15:40 温度サイクル環境起因のSnウィスカ成長一考察 R2013-77 ○伊藤貞則（イトケン事務所）
(5) 15:40-16:05 残存エラー数に基づくソフトウェアのベイズ信頼性解析 R2013-78 ○貝瀬　徹（兵庫県立大）
(6) 16:05-16:30 LSIの高信頼化設計における課題と展望 ○高山浩一郎・安里　彰（富士通）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 安里 彰（富士通）
E--mail: a 


Last modified: 2013-09-25 15:02:06


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