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★信頼性研究会（R） 専門委員長 木村 光宏 (法政大) 副委員長 馬渡 宏泰 (NTT) 幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大) 幹事補佐 田村 信幸 (法政大)， マラット ザニケエフ (九工大) 日時 2013年11月14日(木) 14：00～16：30 会場 中央電気倶楽部（〒530-0004 大阪市北区堂島浜2丁目1番25号．http://www.chuodenki-club.or.jp/map/map.html．杉谷全令．０６－６３４５－６３５１） 議題 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般 11月14日(木) 午後 （14：00～16：30） (1) 14:00 - 14:25 故障解析をサポートする最新のエックス線技術 ～ エックス線検査の基礎から応用まで、革新技術による観察応用事例 ～ ○夏原正仁（島津製作所） (2) 14:25 - 14:50 ロックインサーモグラフィによる効率的な非破壊故障箇所の同定 ○長友俊信（DCGシステムズ） (3) 14:50 - 15:15 熱衝撃Snウィスカの成長に及ぼす板状のNi-Sn金属間化合物の影響 ○斎藤 彰・岡本 朗・岩堀禎浩・小川 誠（村田製作所）・元木章博（鯖江村田製作所） (4) 15:15 - 15:40 温度サイクル環境起因のSnウィスカ成長一考察 ○伊藤貞則（イトケン事務所） (5) 15:40 - 16:05 残存エラー数に基づくソフトウェアのベイズ信頼性解析 ○貝瀬 徹（兵庫県立大） (6) 16:05 - 16:30 LSIの高信頼化設計における課題と展望 ○高山浩一郎・安里 彰（富士通） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月13日(金) 機械振興会館 [10月16日(水)] テーマ：信頼性国際規格，保全性，信頼性一般 2014年2月21日(金) パナソニック「松心会館」 [12月12日(木)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジー研究会、IEEE CPMT JAPAN、IEEE Reliability Society Japan Chapter、 協賛：日本信頼性学会） 【問合先】 安里 彰（富士通） E-mail: a          Last modified: 2013-09-25 15:02:06 |
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