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| 専門委員長 |
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木村 光宏 (法政大) |
| 副委員長 |
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馬渡 宏泰 (NTT) |
| 幹事 |
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安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大) |
| 幹事補佐 |
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田村 信幸 (法政大)， マラット ザニケエフ (九工大) |
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| 日時 |
2013年11月14日(木) 14:00 - 16:30 |
| 議題 |
半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般 |
| 会場名 |
中央電気倶楽部 |
| 住所 |
〒530-0004 大阪市北区堂島浜2丁目1番25号 |
| 交通案内 |
http://www.chuodenki-club.or.jp/map/map.html |
会場世話人
連絡先 |
杉谷全令
０６－６３４５－６３５１ |
| 他の共催 |
◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛
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11月14日(木) 午後
14:00 - 16:30 |
| (1) |
14:00-14:25 |
故障解析をサポートする最新のエックス線技術 ～ エックス線検査の基礎から応用まで、革新技術による観察応用事例 ～ |
○夏原正仁（島津製作所） |
| (2) |
14:25-14:50 |
ロックインサーモグラフィによる効率的な非破壊故障箇所の同定 |
○長友俊信（DCGシステムズ） |
| (3) |
14:50-15:15 |
熱衝撃Snウィスカの成長に及ぼす板状のNi-Sn金属間化合物の影響 |
○斎藤 彰・岡本 朗・岩堀禎浩・小川 誠（村田製作所）・元木章博（鯖江村田製作所） |
| (4) |
15:15-15:40 |
温度サイクル環境起因のSnウィスカ成長一考察 |
○伊藤貞則（イトケン事務所） |
| (5) |
15:40-16:05 |
残存エラー数に基づくソフトウェアのベイズ信頼性解析 |
○貝瀬 徹（兵庫県立大） |
| (6) |
16:05-16:30 |
LSIの高信頼化設計における課題と展望 |
○高山浩一郎・安里 彰（富士通） |
| 講演時間 |
| 一般講演 | 発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 |
Last modified: 2013-09-25 15:02:06
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