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★信頼性研究会（R） 専門委員長 馬渡 宏泰 (NTT) 副委員長 弓削 哲史 (防衛大) 幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大) 幹事補佐 マラット ザニケエフ (九工大)， 田村 信幸 (法政大) 日時 2015年11月19日(木) 14：00～16：20 会場 大阪中央電気倶楽部（大阪市北区堂島浜２丁目１番２５号．大阪駅より徒歩１２分，JR北新地駅より７分 ○地下鉄四つ橋線西梅田駅より６分ほか．http://www.chuodenki-club.or.jp/．杉谷全令 （オムロン（株））．06-6345-6351） 議題 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般 11月19日(木) 午後 （14：00～15：15） (1) 14:00 - 14:25 階層ベイズとフィルタリングを用いた信頼性解析 ○貝瀬 徹（兵庫県立大） (2) 14:25 - 14:50 ソフトエラーの同時発生範囲の測定方法 ○益田 昇・安永守利（筑波大） (3) 14:50 - 15:15 反射率変化観測と変化率イメージングによるパワーMOSFETの動作解析 ○遠藤幸一（東芝）・中村共則（浜松ホトニクス）・中前幸治（阪大） −−− 休憩 （ 15分 ） −−− 11月19日(木) 午後 （15：30～16：20） (4) 15:30 - 15:55 市場品質保証のための電子部品の信頼性試験計画 ○松岡敏成（三菱電機） (5) 15:55 - 16:20 ライフエンド評価用加速試験一考察 ○伊藤貞則（イトケン事務所） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter，日本信頼性学会関支部共催 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月18日(金) 機械振興会館 [10月18日(日)] テーマ：信頼性国際規格，保全性，信頼性一般 2016年2月19日(金) あざれあ(静岡市) [12月11日(金)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジー研究会、IEEE CPMT JAPAN、IEEE Reliability Society Japan Chapter、 協賛：日本信頼性学会） 【問合先】 岡村 寛之（広島大） E-mail:     l     -u Last modified: 2015-10-27 11:07:10 |
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