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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 馬渡 宏泰 (NTT)
副委員長 弓削 哲史 (防衛大)
幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)
幹事補佐 マラット ザニケエフ (九工大)， 田村 信幸 (法政大)

日時 2015年11月19日(木)　14:00 - 16:20
議題 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般 
会場名 大阪中央電気倶楽部 
住所 大阪市北区堂島浜２丁目１番２５号
交通案内 大阪駅より徒歩１２分，JR北新地駅より７分 ○地下鉄四つ橋線西梅田駅より６分ほか
http://www.chuodenki-club.or.jp/
会場世話人
連絡先		 杉谷全令 （オムロン（株））
06-6345-6351
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter，日本信頼性学会関支部共催

11月19日(木) 午後 
14:00 - 15:15
(1) 14:00-14:25 階層ベイズとフィルタリングを用いた信頼性解析 ○貝瀬　徹（兵庫県立大）
(2) 14:25-14:50 ソフトエラーの同時発生範囲の測定方法 ○益田　昇・安永守利（筑波大）
(3) 14:50-15:15 反射率変化観測と変化率イメージングによるパワーMOSFETの動作解析 ○遠藤幸一（東芝）・中村共則（浜松ホトニクス）・中前幸治（阪大）
  15:15-15:30 休憩　（ 15分 ）
11月19日(木) 午後 
15:30 - 16:20
(4) 15:30-15:55 市場品質保証のための電子部品の信頼性試験計画 ○松岡敏成（三菱電機）
(5) 15:55-16:20 ライフエンド評価用加速試験一考察 ○伊藤貞則（イトケン事務所）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 岡村 寛之（広島大）
E--mail: l-u 


Last modified: 2015-10-27 11:07:10


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