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次世代無線設備試験認証技術研究会(ACT) [schedule] [select]
専門委員長 笹岡 秀一 (同志社大)
副委員長 新井 宏之 (横浜国大)
幹事 石井 望 (新潟大), 松本 泰 (NICT)

日時 2010年 2月24日(水) 13:30 - 17:00
議題 無線機器測定技術一般 
会場名 (独)情報通信研究機構(NICT)小金井本部本館4階 TV会議室 
住所 〒184-8795 東京都小金井市貫井北町4-2-1
交通案内 JR国分寺駅からバス10分(情報通信研究機構前下車)
http://www.nict.go.jp/about/hq.html
お知らせ ◎参加費(資料代) 1,000円(当日会場でお支払い下さい)
◎参加方法 参加を希望する方は,当日,直接,会場受付にお越し下さい.なお,NICTに入館する際,守衛の方にACT研に参加する旨をお伝え下さい.

2月24日(水) 午後 
13:30 - 17:00
  13:30-13:35 委員長挨拶 ( 5分 )
(1) 13:35-14:05 軽量人体ファントムを用いた簡易SAR測定法 渡部 旦道下尚文山田吉英防衛大
(2) 14:05-14:35 リアルタイムアナライザを用いた雑音端子電圧測定 原本欽朗小林丈士西野義典五十嵐美穂子都立産技研センター
(3) 14:35-15:05 V/UHF帯測定用アンテナの較正法に関するCISPR規格化 杉浦 行NICT
  15:05-15:15 休憩 ( 10分 )
(4) 15:15-15:45 一般化螺旋点法による全放射電力測定 吉田真由美新井宏之横浜国大
(5) 15:45-16:15 FFT型多周波APD測定装置の開発と応用 後藤 薫松本 泰NICT
(6) 16:15-17:00 NICT施設見学

講演時間
一般講演発表 25 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
ACT 次世代無線設備試験認証技術研究会(ACT)   [今後の予定はこちら]
問合先 E-: t- 
お知らせ ◎最新情報は,ACT研究会ホームページを御覧下さい.
http://www.ieice.org/~act/
◎研究会に引き続きNICTの施設見学を行いますので,あわせてご参加下さい.


Last modified: 2009-12-15 23:03:22


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