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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 馬渡 宏泰 (NTT)
副委員長 弓削 哲史 (防衛大)
幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)
幹事補佐 マラット ザニケエフ (九工大)， 田村 信幸 (法政大)

日時 2016年11月17日(木)　14:00 - 16:20
議題 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般（共催：日本信頼性学会関西支部） 
会場名 大阪中央電気倶楽部 
住所 〒530-0004 大阪市北区堂島浜2-1-25
交通案内 大阪駅より徒歩１２分，JR北新地駅より７分，地下鉄四つ橋線西梅田駅より６分ほか
http://www.chuodenki-club.or.jp/
会場世話人
連絡先		 柳井健太郎（オムロン（株））
06-6345-6351
他の共催 ◆日本信頼性学会関西支部，IEEE Reliability Society Japan Chapter共催

11月17日(木) 午後 
14:00 - 16:20
(1) 14:00-14:25 離散化モデルによるワイブル分布の3-パラメータ推定 ○魚岸健次
(2) 14:25-14:50 機械学習を用いたソフトウェアの信頼性解析 ○貝瀬　徹（兵庫県立大）
(3) 14:50-15:15 最尤推定法を使った製造条件範囲の最適化 ○松岡敏成（三菱電機）
  15:15-15:30 休憩　（ 15分 ）
(4) 15:30-15:55 はんだ実装基板におけるエレクトロケミカルマイグレーションテスト一考察 ○伊藤貞則（イトケン事務所）
(5) 15:55-16:20 X線透視観察装置における高白黒階調性能の効果について ○芝野照夫（三菱電機）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 岡村 寛之（広島大）
E--mail: l-u 


Last modified: 2016-09-20 17:56:44


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