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★有機エレクトロニクス研究会(OME)
専門委員長 森 竜雄 (愛知工大)  副委員長 真島 豊 (東工大)
幹事 山田 俊樹 (NICT), 田口 大 (東工大)
幹事補佐 梶井 博武 (阪大), 嘉治 寿彦 (農工大)

★シリコン材料・デバイス研究会(SDM)
専門委員長 国清 辰也 (ルネサス エレクトロニクス)  副委員長 品田 高宏 (東北大)
幹事 黒田 理人 (東北大), 山口 直 (ルネサス エレクトロニクス)
幹事補佐 池田 浩也 (静岡大), 諸岡 哲 (東芝メモリ)

日時 2018年 4月 6日(金) 13:50~17:00
   2018年 4月 7日(土) 10:00~14:40

会場 沖縄県青年会館(〒900-0033 沖縄県那覇市久米2-15-23.モノレール 旭橋駅下車 徒歩5分.http://www.okiseikan.or.jp/user.php?CMD=1154016000000.九州大学大学院システム情報科学研究院 佐道泰造.092-802-3737)

議題 薄膜(Si,化合物,有機,フレキシブル)機能デバイス・バイオテクノロジー・材料・評価技術および一般

4月6日(金) 午後 (13:50~17:00)

(1) 13:50 - 14:30
固液界面における色素の固定化と機能のその場観察
○松田直樹・岡部浩隆(産総研)

(2) 14:30 - 15:10
分岐構造をとる多孔質電極のインピーダンス理論とセンサー電極への応用
○板垣昌幸(東京理科大)

−−− 休憩 ( 20分 ) −−−

(3) 15:30 - 16:20
[招待講演]表面化学修飾技術による機能性材料の開発 ~ 表面濡れ性制御および複合化高機能繊維への展開 ~
○中村挙子(産総研)

(4) 16:20 - 17:00
がん細胞における解糖系振動の集団同期
○雨宮 隆・柴田賢一・高橋純平(横浜国大)

4月7日(土) 午前 (10:00~14:40)

(5) 10:00 - 10:40
[招待講演]μシェブロン型レーザビーム走査によるSi/Ge膜の単結晶帯形成とその結晶評価
○葉 文昌(島根大)

(6) 10:40 - 11:20
[招待講演]金属ソース/ドレイン構造の低温ポリSi TFTs
○野口 隆・岡田竜也(琉球大)

(7) 11:20 - 12:00
[招待講演]Ⅳ族系薄膜トランジスタの高性能化・高機能化
○原 明人・内海大樹・西口尚希・宮崎 僚(東北学院大)

−−− 休憩 ( 70分 ) −−−

(8) 13:10 - 13:50
[招待講演]酸化物半導体InGaZnOx薄膜トランジスタの特性制御
○古田 守・アマン S G メハディ・是友大地・曲 勇作(高知工科大)

(9) 13:50 - 14:15
InGaZnOxヘテロチャネルによる薄膜トランジスタ
東 龍之介・是友大地・田中宏怜(高知工科大)・髙橋誠一郎・八島 勇(三井金属鉱業)・○古田 守(高知工科大)

(10) 14:15 - 14:40
InGaZnOX/AgOX酸化物ヘテロSchottky界面の起源とフレキシブルデバイス応用
○曲 勇作・牧野久雄・橋本慎輔・濵田賢一朗・増田健太郎・古田 守(高知工科大)

一般講演(OME):発表 30 分 + 質疑応答 10 分
招待講演(OME):発表 40 分 + 質疑応答 10 分
一般講演(SDM):発表 15 分 + 質疑応答 10 分
招待講演(SDM):発表 30 分 + 質疑応答 10 分

◎1日目の研究会終了後,懇親会を予定していますので御参加ください.


☆OME研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

7月19日(木)~20日(金) [19日](株)コロナ 本社 会議室, [20日]まちなかキャンパス長岡301会議室 [5月23日(水)] テーマ:有機薄膜,有機・バイオデバイス,一般

【問合先】
山田 俊樹(NICT)
E-mail:

田口 大(東工大)
E-mail: gudaam

梶井 博武(阪大)
E-mail: ioledeeieng-u

嘉治 寿彦(農工大)
E-mail: -tcctuat

☆SDM研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

5月24日(木) (開催日変更) 豊橋技科大VBL [3月16日(金)] テーマ:結晶成長、評価及びデバイス(化合物、Si、SiGe、電子・光材料)およびその他
6月25日(月) 名古屋大学 VBL3F [4月16日(月)] テーマ:MOSデバイス・メモリ高性能化-材料・プロセス技術 (応用物理学会、シリコンテクノロジー分科会との合同開催)

【問合先】
黒田 理人(東北大)
Tel 022-795-4833 Fax 022-795-4834
E-mail: e3


Last modified: 2018-02-18 19:59:28


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