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ディペンダブルコンピューティング研究会(DC) [schedule] [select]
専門委員長 梶原 誠司 (九工大)
副委員長 金川 信康 (日立)
幹事 中村 友洋 (日立), 土屋 達弘 (阪大)

日時 2014年 2月10日(月) 09:00 - 17:30
議題 VLSI設計とテストおよび一般 
会場名 機械振興会館 地下3階2号室 
住所 〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8
交通案内 交通案内 東京メトロ日比谷線「神谷町」駅下車徒歩約7分,都営大江戸線「赤羽橋」駅下車徒歩約8分,都営三田線「御成門」駅下車徒歩約10分,都営浅草線「大門」駅下車徒歩約15分.
会場世話人
連絡先
細川 利典(日本大学),井上 智生(広島市立大学)

2月10日(月) 午前  テスト容易化設計
座長: 吉村 正義(九大)
09:00 - 10:15
(1) 09:00-09:25 モジュール間結合増加率に基づくスキャンチェーン接続法 ○小松 巡・岩田大志・山口賢一(奈良高専)
(2) 09:25-09:50 TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価 ○櫻井浩希・四柳浩之・橋爪正樹(徳島大)
(3) 09:50-10:15 非同期式QDI回路における任意の故障に対する検出手法 ○水谷早苗・岩田大志・山口賢一(奈良高専)
  10:15-10:30 休憩 ( 15分 )
2月10日(月) 午前  低消費電力テスト
座長: 四柳 浩之(徳島大)
10:30 - 11:20
(4) 10:30-10:55 DCSTP回路に対する最適電力テストパターン順序付け手法 ○小河 亮・岩田大志・山口賢一(奈良高専)
(5) 10:55-11:20 SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典(日大)・吉村正義(九大)
  11:20-11:35 休憩 ( 15分 )
2月10日(月) 午前  テスト品質
座長: 細川 利典(日大)
11:35 - 12:50
(6) 11:35-12:00 異なる欠陥粒径とビアオープンを考慮した重み付き故障カバレージに関する一考察 ○中山裕太(首都大東京)・新井雅之(日大)・史 虹波・岩崎一彦(首都大東京)
(7) 12:00-12:25 最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法 ○新谷道広・佐藤高史(京大)
(8) 12:25-12:50 メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案 ○里中沙矢香・岩田大志・山口賢一(奈良高専)
  12:50-14:15 休憩 ( 85分 )
2月10日(月) 午後  特別講演
座長: 梶原 誠司(九工大)
14:15 - 14:55
(9) 14:15-14:55 コンピュータシステムのディペンダビリティ設計について
岩崎一彦(首都大東京)
  14:55-15:10 休憩 ( 15分 )
2月10日(月) 午後  テストデータ圧縮
座長: 井上 智生(広島市大)
15:10 - 16:25
(10) 15:10-15:35 BASTにおけるシフトデータ量削減法 ○田中まりか・山崎紘史・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・新井雅之(日大)
(11) 15:35-16:00 BASTにおけるスキャンシフト制御および反転信号の部分リセットによるテストデータ量削減法 ○森 凌太・四柳浩之・橋爪正樹(徳島大)
(12) 16:00-16:25 マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・山崎浩二(明大)
  16:25-16:40 休憩 ( 15分 )
2月10日(月) 午後  ディペンダビリティとセキュリティ
座長: 新井 雅之(日大)
16:40 - 17:30
(13) 16:40-17:05 Dual-FPGAアーキテクチャに基づく相互再構成型耐故障システムの実装 ○森 拓馬・大元将一・岩垣 剛・市原英行・井上智生(広島市大)
(14) 17:05-17:30 XMeshプロトコルを用いたワイヤレスセンサーネットワークに対するワームホール攻撃の検出 ○蓑原 隆・吉井 碧(拓殖大)

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分
特別講演発表 30 分 + 質疑応答 10 分

問合先と今後の予定
DC ディペンダブルコンピューティング研究会(DC)   [今後の予定はこちら]
問合先 土屋 達弘 (大阪大学大学院情報科学研究科)
E--mail:t-tuist-u 
お知らせ ◎最新情報は,DC研究会ホームページを御覧下さい.
http://www.ieice.org/iss/dc/jpn/index.html


Last modified: 2013-12-20 20:27:53


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