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集積回路研究会(ICD) [schedule] [select]
専門委員長 亀山 充隆
副委員長 中屋 雅夫
幹事 内山 邦男, 宮野 信治
幹事補佐 張山 昌論, 甲斐 康司

電子部品・材料研究会(CPM) [schedule] [select]
専門委員長 星 陽一
副委員長 石井 清
幹事 藤浦 和夫, 北本 仁孝
幹事補佐 松浦 徹

日時 2005年 1月27日(木) 13:00 - 17:15
2005年 1月28日(金) 09:00 - 17:15
議題 LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト実装、一般 
会場名 機械振興会館 
住所 〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8

1月27日(木) 午後 
13:00 - 15:00
(1) 13:00-13:30 LSI断線箇所診断手法 ○小宮泰麿・菊地修司(日立)・嶋瀬 朗・向川一也(ルネサステクノロジ)
(2) 13:30-14:00 90nmデバイスのLVP測定容易性評価とLVP測定用素子の開発 ○野中淳平・和田慎一(NECエレクトロニクス)
(3) 14:00-14:30 SILプレートによる高分解能故障解析 ○吉田岳司・小山 徹・小守純子・益子洋治(ルネサステクノロジ)
(4) 14:30-15:00 作りこみ欠陥を有する完成チップの走査レーザSQUID顕微鏡による観測 ○酒井哲哉・二川 清(NECエレクトロニクス)
  15:00-15:15 休憩 ( 15分 )
1月27日(木) 午後 
15:15 - 17:15
(5) 15:15-16:15 [特別招待講演]ULSIデバイス解析評価技術の現状と今後 ~ LSIの将来の生命線を握る解析技術 ~ ○益子洋治(ルネサステクノロジ)
(6) 16:15-16:45 レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察 ○山下将嗣・川瀬晃道・大谷知行(理研)・二川 清(NECエレクトロニクス)・斗内政吉(阪大)
(7) 16:45-17:15 Sn-Ag-X 鉛フリーはんだの高信頼性化への検討 ○雨海正純(日本テキサス・インスツルメンツ)・大西 司・田島 武(千住金属)
1月28日(金) 午前 
09:00 - 10:30
(8) 09:00-09:30 サーバ・ルータ向け10Gbps伝送プロトタイプ 柳生正義・山下寛樹・結城文夫・○川下達也・藤村康弘・高田芳文(日立)
(9) 09:30-10:00 高密度、多ピンパッケージにおける高信頼性確認手法と事例紹介 ○橋本修平・川口泰雅・羽二生 稔・松永俊博・松尾光永・川谷直子・樋口裕久・高橋貴彦(日立)
(10) 10:00-10:30 高速ランダムアクセス混載 DRAM におけるパッケージ後の自動救済技術 ○中山 篤・行川敏正・伊藤 洋・和田 修・藤井秀壮(東芝)
  10:30-10:45 休憩 ( 15分 )
1月28日(金) 午前 
10:45 - 12:15
(11) 10:45-11:15 アナログ回路の故障診断手法の検討 ○久慈憲夫(八戸高専)
(12) 11:15-11:45 RTL故障診断技術の実用化に向けた開発 ○二階堂正人・船津幸永(NECエレクトロニクス)
(13) 11:45-12:15 故障診断のための観測性の定量化について ○豊田直哉・梶原誠司・温 暁青(九工大)・真田 克(NECエレクトロニクス)
  12:15-13:30 昼食 ( 75分 )
1月28日(金) 午後 
13:30 - 15:30
(14) 13:30-14:00 テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について ○新谷道広・越智正邦・市原英行・井上智生(広島市大)
(15) 14:00-14:30 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について ○樋上喜信(愛媛大)・梶原誠司(九工大)・小林真也・高松雄三(愛媛大)
(16) 14:30-15:00 機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法 ○三浦克介・中前幸治・藤岡 弘(阪大)
(17) 15:00-15:30 スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法 ○新井雅之・黒川晴申・市野憲一・福本 聡・岩崎一彦(都立大)
  15:30-15:45 休憩 ( 15分 )
1月28日(金) 午後 
15:45 - 17:15
(18) 15:45-16:15 Learning-Based Improvement in Fault Tolerance of Hopfield Associative Memories ○Naotake Kamiura・Teijiro Isokawa・Nobuyuki Matsui(Univ. of Hyogo)
(19) 16:15-16:45 65nm時代以降のSoCデバイステスト技術 ~ Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法 ~ ○山崎 眞・古川靖夫(アドバンテスト)
(20) 16:45-17:15 経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用 ○船津幸永・住友洋志・重田一樹・石山敏夫(NECエレクトロニクス)

講演時間
一般講演(30分)発表 20 分 + 質疑応答 10 分
特別招待講演(60分)発表 50 分 + 質疑応答 10 分

問合先と今後の予定
ICD 集積回路研究会(ICD)   [今後の予定はこちら]
問合先 甲斐 康司(松下)
TEL 0948-21-2625, FAX 0948-21-2620
E-: i-icdmlpac 
CPM 電子部品・材料研究会(CPM)   [今後の予定はこちら]
問合先 藤浦和夫(NTTフォトニクス研究所)
TFL046-240-4531,FAX046-240-4527
E-:uaecl 


Last modified: 2004-11-25 15:57:15


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