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★集積回路研究会(ICD)
専門委員長 亀山 充隆  副委員長 中屋 雅夫
幹事 内山 邦男, 宮野 信治
幹事補佐 張山 昌論, 甲斐 康司

★電子部品・材料研究会(CPM)
専門委員長 星 陽一  副委員長 石井 清
幹事 藤浦 和夫, 北本 仁孝
幹事補佐 松浦 徹

日時 2005年 1月27日(木) 13:00~17:15
   2005年 1月28日(金) 09:00~17:15

会場 機械振興会館(〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8)

議題 LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト実装、一般

1月27日(木) 午後 (13:00~15:00)

(1) 13:00 - 13:30
LSI断線箇所診断手法
○小宮泰麿・菊地修司(日立)・嶋瀬 朗・向川一也(ルネサステクノロジ)

(2) 13:30 - 14:00
90nmデバイスのLVP測定容易性評価とLVP測定用素子の開発
○野中淳平・和田慎一(NECエレクトロニクス)

(3) 14:00 - 14:30
SILプレートによる高分解能故障解析
○吉田岳司・小山 徹・小守純子・益子洋治(ルネサステクノロジ)

(4) 14:30 - 15:00
作りこみ欠陥を有する完成チップの走査レーザSQUID顕微鏡による観測
○酒井哲哉・二川 清(NECエレクトロニクス)

−−− 休憩 ( 15分 ) −−−

1月27日(木) 午後 (15:15~17:15)

(5) 15:15 - 16:15
[特別招待講演]ULSIデバイス解析評価技術の現状と今後 ~ LSIの将来の生命線を握る解析技術 ~
○益子洋治(ルネサステクノロジ)

(6) 16:15 - 16:45
レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察
○山下将嗣・川瀬晃道・大谷知行(理研)・二川 清(NECエレクトロニクス)・斗内政吉(阪大)

(7) 16:45 - 17:15
Sn-Ag-X 鉛フリーはんだの高信頼性化への検討
○雨海正純(日本テキサス・インスツルメンツ)・大西 司・田島 武(千住金属)

1月28日(金) 午前 (09:00~10:30)

(8) 09:00 - 09:30
サーバ・ルータ向け10Gbps伝送プロトタイプ
柳生正義・山下寛樹・結城文夫・○川下達也・藤村康弘・高田芳文(日立)

(9) 09:30 - 10:00
高密度、多ピンパッケージにおける高信頼性確認手法と事例紹介
○橋本修平・川口泰雅・羽二生 稔・松永俊博・松尾光永・川谷直子・樋口裕久・高橋貴彦(日立)

(10) 10:00 - 10:30
高速ランダムアクセス混載 DRAM におけるパッケージ後の自動救済技術
○中山 篤・行川敏正・伊藤 洋・和田 修・藤井秀壮(東芝)

−−− 休憩 ( 15分 ) −−−

1月28日(金) 午前 (10:45~12:15)

(11) 10:45 - 11:15
アナログ回路の故障診断手法の検討
○久慈憲夫(八戸高専)

(12) 11:15 - 11:45
RTL故障診断技術の実用化に向けた開発
○二階堂正人・船津幸永(NECエレクトロニクス)

(13) 11:45 - 12:15
故障診断のための観測性の定量化について
○豊田直哉・梶原誠司・温 暁青(九工大)・真田 克(NECエレクトロニクス)

−−− 昼食 ( 75分 ) −−−

1月28日(金) 午後 (13:30~15:30)

(14) 13:30 - 14:00
テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について
○新谷道広・越智正邦・市原英行・井上智生(広島市大)

(15) 14:00 - 14:30
順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について
○樋上喜信(愛媛大)・梶原誠司(九工大)・小林真也・高松雄三(愛媛大)

(16) 14:30 - 15:00
機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法
○三浦克介・中前幸治・藤岡 弘(阪大)

(17) 15:00 - 15:30
スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法
○新井雅之・黒川晴申・市野憲一・福本 聡・岩崎一彦(都立大)

−−− 休憩 ( 15分 ) −−−

1月28日(金) 午後 (15:45~17:15)

(18) 15:45 - 16:15
Learning-Based Improvement in Fault Tolerance of Hopfield Associative Memories
○Naotake Kamiura・Teijiro Isokawa・Nobuyuki Matsui(Univ. of Hyogo)

(19) 16:15 - 16:45
65nm時代以降のSoCデバイステスト技術 ~ Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法 ~
○山崎 眞・古川靖夫(アドバンテスト)

(20) 16:45 - 17:15
経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用
○船津幸永・住友洋志・重田一樹・石山敏夫(NECエレクトロニクス)

一般講演(30分):発表 20 分 + 質疑応答 10 分
特別招待講演(60分):発表 50 分 + 質疑応答 10 分


☆ICD研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

3月10日(木)~11日(金) メルパルク沖縄 [1月14日(金)] テーマ:「システムオンシリコン設計技術ならびにこれを活用したVLSI」
4月14日(木)~15日(金) 福岡システムLSI 総合開発センター [2月28日(月)] テーマ:新メモリ技術、メモリ応用技術、一般

【問合先】
甲斐 康司(松下)
TEL 0948-21-2625, FAX 0948-21-2620
E-mail: i-icdmlpac

☆CPM研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

4月22日(金) 機械振興会館 [2月18日(金)] テーマ:光部品の実装・信頼性、一般

【問合先】
藤浦和夫(NTTフォトニクス研究所)
TFL046-240-4531,FAX046-240-4527
E-mail:uaecl


Last modified: 2004-11-25 15:57:15


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