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★信頼性研究会(R)
専門委員長 安里 彰 (富士通)  副委員長 土肥 正 (広島大)
幹事 田村 信幸 (法政大), 井上 真二 (関西大)
幹事補佐 岡村 寛之 (広島大), 横川 慎二 (電通大)

日時 2019年 6月14日(金) 14:00~16:20

会場 機械振興会館 地下3階 9号室(東京都港区芝公園3-5-8.http://www.jspmi.or.jp/kaigishitsu/)

議題 信頼性一般

6月14日(金) 午後 (14:00~16:20)

(1) 14:00 - 14:25
集中型同時故障モデルと信頼性
○弓削哲史(防衛大)

(2) 14:25 - 14:50
マルコフ的劣化システムにおける最適な修理程度の決定
○田村信幸(法政大)

(3) 14:50 - 15:15
クラスター欠陥とストレス分布に基づく先端デバイスの信頼度モデリング
○横川慎二・國井喬介(電通大)

−−− 休憩 ( 15分 ) −−−

(4) 15:30 - 15:55
非線形ロジスティック回帰モデルに基づいたソフトウェア fault-prone モジュールの識別比較
山中一成・○土肥 正・岡村寛之(広島大)

(5) 15:55 - 16:20
反復深化深さ優先探索を用いた最小費用流問題解法評価
○秋葉知昭(千葉工大)・高橋奈津美(青学大)・山本久志(首都大東京)

一般講演:発表 20 分 + 質疑応答 5 分

◆日本信頼性学会,IEEE Reliability Society Japan Chapter共催


☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

7月26日(金) 一関文化センター [5月15日(水)] テーマ:信頼性理論,通信ネットワークの信頼性,信頼性一般
8月22日(木)~23日(金) 東北大学 電気通信研究 本館オープンセミナールーム(M153) [6月12日(水)] テーマ:受光素子,変調器,光部品・電子デバイス実装・信頼性,及び一般

【問合先】
岡村 寛之(広島大)
E-mail: -u


Last modified: 2019-04-23 09:05:58


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[研究会資料インデックス(vol. no.ごとの表紙と目次)]
 

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