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★ディペンダブルコンピューティング研究会（DC）
専門委員長　米田友洋 (NII)　　副委員長　梶原誠司 (九工大)
幹事　北神正人 (千葉大)，中村友洋 (日立)

日時　2012年 2月13日(月)　10：00～16：45

会場機械振興会館地下3階6号室（〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8．東京メトロ日比谷線「神谷町」駅下車徒歩約７分，都営大江戸線「赤羽橋」駅下車徒歩約８分，都営三田線「御成門」駅下車徒歩約10分，都営浅草線「大門」駅下車徒歩約15分．http://www.jspmi.or.jp/mapright.htm）

議題 VLSI設計とテストおよび一般

2月13日(月) 午前回路設計・ハードウェアトロイ設計（10：00～10：50）

(1) 10:00 - 10:25
デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用
○大川善大・三浦幸也（首都大東京）

(2) 10:25 - 10:50
AES暗号回路におけるトロイ設計の影響評価
○荻田英実・細川利典（日大）・吉村正義（九大）

−−−　休憩　（ 15分）　−−−

2月13日(月) 午前低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定（11：05～12：20）

(3) 11:05 - 11:30
パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法
○田中広彬・宮瀬紘平・榎元和成・温　暁青・梶原誠司（九工大）

(4) 11:30 - 11:55
レイアウトを考慮した故障カバレージの高精度見積りに関する一考察
○新井雅之・清水貴弘・岩崎一彦（首都大東京）

(5) 11:55 - 12:20
低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について
○加藤隆明・王　森レイ・宮瀬紘平・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST）

−−−　昼食　（ 100分）　−−−

2月13日(月) 午後テスト生成・テスト容易化設計（14：00～15：15）

(6) 14:00 - 14:25
バウンダリスキャンテストにおける新たな課題～相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察～
○亀山修一（富士通/愛媛大）・馬場雅之（富士通）・樋上喜信・高橋　寛（愛媛大）

(7) 14:25 - 14:50
制御ポイント挿入による遷移故障テストパターン削減法
○高橋明彦・細川利典（日大）・吉村正義（九大）

(8) 14:50 - 15:15
同期式設計から変換されたQDI回路のテスト生成法
○内田行紀・村田絵理（奈良先端大）・大竹哲史（大分大/JST）・中島康彦（奈良先端大）

−−−　休憩　（ 15分）　−−−

2月13日(月) 午後ばらつき・フィールドテスト（15：30～16：45）

(9) 15:30 - 15:55
プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み
○新谷道広・佐藤高史（京大）

(10) 15:55 - 16:20
フィールドにおける劣化検知のための動的テストスケジューリング
○森永洋介（奈良先端大）・米田友和（奈良先端大/JST）・李　賢彬（Hanbat National Univ.）・井上美智子（奈良先端大/JST）

(11) 16:20 - 16:45
フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価
○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平（九工大/JST）・三浦幸也（首都大東京/JST）

一般講演：発表 20 分＋質疑応答 5 分

☆DC研究会今後の予定　[ ]内発表申込締切日

3月2日(金)～3日(土)　ホテル松島大観荘　[1月16日(月)]　テーマ：組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2012
4月10日(火)　東京工業大学　[2月15日(水)]　テーマ：ディペンダブルコンピューティングシステムおよび一般
5月28日(月)～30日(水)　北九州国際会議場　　テーマ：LSIとシステムのワークショップ2012

【問合先】
北神正人
〒263-8522 千葉市稲毛区弥生町1－33
千葉大学大学院融合科学研究科
TEL/FAX 043-290-3254
E-mail: