2月17日(水) 午前 テスト生成 座長: 細川利典(日大) 10:00 - 11:15 |
(1) |
10:00-10:25 |
双対近似回路を用いた同時多重過渡故障検出に関する一考察 |
○曽根原啓介・新井雅之(日大) |
(2) |
10:25-10:50 |
Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation |
○Fuqiang Li・Xiaoqing Wen・Stefan Holst・Kohei Miyase・Seiji Kajihara(Kyutech) |
(3) |
10:50-11:15 |
論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減 |
○藤谷和依・四柳浩之・橋爪正樹(徳島大)・樋上喜信・高橋 寛(愛媛大) |
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11:15-11:30 |
休憩 ( 15分 ) |
2月17日(水) 午前 高速化設計とシミュレーション 座長: 新井雅之(日大) 11:30 - 12:20 |
(4) |
11:30-11:55 |
連続ビット系列の動的共有によるストカスティックコンピューティングの高速化 |
○高森研輔・市原英行・岩垣 剛・井上智生(広島市大) |
(5) |
11:55-12:20 |
ゼロ遅延論理シミュレーションに基づく遅延故障インジェクション環境 |
○川崎真司・米田友和・大和勇太・井上美智子(奈良先端大) |
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12:20-14:00 |
昼食 ( 100分 ) |
2月17日(水) 午後 テスト容易化設計と故障診断 座長: 市原英行(広島市大) 14:00 - 15:15 |
(6) |
14:00-14:25 |
故障励起条件解析を用いたユニバーサル論理故障診断のための被疑故障ランキング法 |
○高野秀之・細川利典・山崎紘史(日大)・山崎浩二(明大) |
(7) |
14:25-14:50 |
重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法 |
○里中沙矢香・米田友和・大和勇太・井上美智子(奈良先端大) |
(8) |
14:50-15:15 |
テストパターン数削減のためのRTLテストポイント挿入法 |
○大崎直也・細川利典・山崎紘史(日大)・吉村正義(京都産大) |
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休憩 |
2月17日(水) 午後 高信頼化設計と解析 座長: 米田友和(奈良先端大) 15:15 - 16:30 |
(9) |
15:15-15:40 |
三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について |
○王 森レイ・香川敬祐(愛媛大)・亀山修一(富士通)・樋上喜信・高橋 寛(愛媛大) |
(10) |
15:40-16:05 |
車載ネットワークCANにおけるハイブリッド通信プロトコル |
○許斐康司・中村宗幸・酒井和哉・福本 聡(首都大東京) |
(11) |
16:05-16:30 |
電源ノイズによるFF回路の動作への影響に関する研究 |
○山本拓弥・三浦幸也(首都大東京) |