1月27日(木) 午後 座長: 水波 徹(九州工大) 13:00 - 14:15 |
(1) |
13:00-13:25 |
[招待講演]IWCS2010報告 |
○高田崇志・藤本一成・服部知之(住友電工) |
(2) |
13:25-13:50 |
耐低温マイクロベンド光ファイバによる光ケーブル高密度化の検討 |
○鯰江 彰・橋本佳夫・大里 健・村田 暁・岡田直樹(フジクラ) |
(3) |
13:50-14:15 |
間欠接着型光ファイバテープを実装した超細径高密度光ケーブルの設計と特性 |
○山田裕介・泉田 史・倉嶋利雄・戸毛邦弘・保苅和男(NTT) |
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14:15-14:30 |
休憩 ( 15分 ) |
1月27日(木) 午後 座長: 山本 貴司(NTT) 14:30 - 15:45 |
(4) |
14:30-14:55 |
並列光伝送を考慮したHAF構造の検討 |
○加島宜雄(芝浦工大) |
(5) |
14:55-15:20 |
An Experimental Study on Wavelength and Polarization Dependences of Fused Fiber Couplers |
○Katsumi Morishita・Kazunori Yamazaki(Osaka Electro-Comm. Univ.) |
(6) |
15:20-15:45 |
Resonance Wavelength Shifts and Refractive Index Profile Changes Caused by Heating the Long-Period Fiber Grating |
○Fatemeh Abrishamian・Katsumi Morishita(Osaka Electro-Comm. Univ.) |
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15:45-16:00 |
休憩 ( 15分 ) |
1月27日(木) 午後 座長: 服部 知之(住友電工) 16:00 - 17:40 |
(7) |
16:00-16:25 |
Measurement range elongation based on a temporal gating scheme in Brillouin optical correlation domain distributed discrimination system for strain and temperature operated by a single laser |
○Rodrigo Kendy Yamashita(Univ. of Tokyo)・Weiwen Zou(Shanghai Jiao Tong Univ.)・Zuyuan He・Kazuo Hotate(Univ. of Tokyo) |
(8) |
16:25-16:50 |
光周波数コムと可変光遅延線を用いたOFDRにおけるフェーディング雑音低減手法 |
○風間拓志・何 祖源(東大)・古敷谷優介・ファン シンユウ・伊藤文彦(NTT)・保立和夫(東大) |
(9) |
16:50-17:15 |
位相変調光を用いた群速度分散測定における高次分散の影響 |
○山本貴司・森 崇嘉・坂本泰志・冨田 茂(NTT) |
(10) |
17:15-17:40 |
偏波多重信号の時間分解解析を基本としたミュラー行列と偏波モード分散の高速測定 |
○岡本圭司・ファン シンユウ・岡本達也・伊藤文彦・坂巻陽平・橋本俊和(NTT) |
1月28日(金) 午前 座長: 森下 克己(大阪電通大) 09:30 - 10:45 |
(11) |
09:30-09:55 |
[招待講演]ECOC2010報告 ~ 光ファイバ関連 ~ |
○柏木正浩(フジクラ) |
(12) |
09:55-10:20 |
-13200ps/nm/kmの分散を有する空孔アシスト型Dual concentric core Fiber |
○坂本泰志・松井 隆・辻川恭三・冨田 茂(NTT) |
(13) |
10:20-10:45 |
純シリカクラッド表面への圧縮応力付与による低曲げ損失光ファイバの信頼性向上 |
○小西達也・中西哲也・平野正晃・稲井麻紀・佐々木 隆・服部知之(住友電工) |
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10:45-11:00 |
休憩 ( 15分 ) |
1月28日(金) 午前 座長: 小倉 邦男(古河電工) 11:00 - 12:15 |
(14) |
11:00-11:25 |
理論モデルによるファイバヒューズ現象の解析 |
○辻川恭三・半澤信智・冨田 茂(NTT) |
(15) |
11:25-11:50 |
CO2レーザを用いたHAFの端面封止に関する検討 |
○和氣正樹・東 裕司(NTT) |
(16) |
11:50-12:15 |
カット不良端面が使用された光ファイバ接続部の性能劣化の分析 |
○矢島悠一・渡邉 汎・木原 満・豊永雅信(NTT東日本) |