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★ディペンダブルコンピューティング研究会(DC)
専門委員長 梶原 誠司 (九工大)  副委員長 金川 信康 (日立)
幹事 中村 友洋 (日立), 土屋 達弘 (阪大)

日時 2013年 6月21日(金) 13:45~17:00

会場 機械振興会館 地下1階3号室(105-0011 東京都港区芝公園3-5-8.東京メトロ日比谷線 神谷町駅から徒歩8分、都営地下鉄三田線 御成門駅から徒歩8分、都営地下鉄大江戸線 赤羽橋駅から徒歩10分、都営地下鉄浅草線・大江戸線 大門駅から徒歩10分、JR山手線浜 松町駅から徒歩15分.http://www.jspmi.or.jp/kaigishitsu/access.html)

議題 設計/テスト/検証

6月21日(金) 午後 (13:45~15:15)
座長: 中湖 貴久(ルネサスエレクトロニクス)

(1) 13:45 - 14:15
データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法
○兒玉雄佑・西間木 淳・増田哲也・細川利典(日大)・藤原秀雄(阪学院大)

(2) 14:15 - 14:45
制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法
○森保孝憲・大竹哲史(大分大)

(3) 14:45 - 15:15
フィールドにおけるLSI劣化テストの可能性に関する一考察
○佐藤康夫・梶原誠司(九工大)

−−− 休憩 ( 15分 ) −−−

6月21日(金) 午後 (15:30~17:00)
座長: 浜田 周治(富士通セミコンダクター)

(4) 15:30 - 16:00
インタラクションテストにおける故障ペアを特定可能なテストケース集合生成方法の提案
○永元雄宙・小島英春・土屋達弘(阪大)

(5) 16:00 - 16:30
バウンダリスキャンと組み込み再構成可能ハードウェアを用いたSOCのオンラインインターコネクトテスト法
○加藤健太郎(鶴岡高専)

(6) 16:30 - 17:00
リング発振器を用いたトランジスタの劣化推定法
○池田龍史・三浦幸也(首都大東京)

一般講演:発表 25 分 + 質疑応答 5 分


☆DC研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

8月1日(木)~2日(金) 北九州国際会議場 [5月10日(金)] テーマ:並列/分散/協調とディペンダブルコンピューティングおよび一般

【問合先】
土屋 達弘 (大阪大学大学院情報科学研究科)
E-mail:t-tuist-u

◎最新情報は,DC研究会ホームページを御覧下さい.
http://www.ieice.org/iss/dc/jpn/index.html


Last modified: 2013-06-18 10:24:50


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