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★電子通信エネルギー技術研究会（EE）
専門委員長　石原好之 (同志社大)　　副委員長　庄山正仁 (九大)
幹事　西嶋仁浩 (大分大)，馬場崎忠利 (NTT)
幹事補佐　竹内章 (NTT)

日時　2010年12月10日(金)　13：00～17：00

会場機械振興会館地下3階研修1号室（〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8．東京メトロ日比谷線「神谷町駅」下車徒歩8分／都営地下鉄三田線「御成門駅」下車徒歩8分／都営地下鉄大江戸線「赤羽橋駅」下車徒歩10分／都営地下鉄浅草線・大江戸線「大門駅」下車徒歩10分／JR「浜松町駅」下車徒歩15分．http://www.jspmi.or.jp/）

議題電源システムの品質を支える測定、検査および解析技術

12月10日(金) 午後（13：00～17：00）

電気機器が社会生活に不可欠な時代となって久しくなりますが、不可欠になればなるほど、エンドユーザの手に渡ってから正常に機能し続けることが求められます。寿命、故障、あるいは他の理由による不具合で機能不全になると、人々の社会生活に支障をきたす場合があります。
特に、電気機器にエネルギーを供給する電源システムや電源用部品の故障は、機器全体あるいはシステム全体への影響が大きい場合がしばしばです。このため、部品メーカや機器メーカでは、設計の妥当性をシミュレーション解析で検証したり、使用状況を測定・診断したり、不具合が起きるとその原因を解析し、設計・製造・検査工程に反映するなどして、電気機器の品質を維持、向上する活動を行っています。
電源システムや電源用部品の測定、検査および解析技術は、電源システムの品質を確保する上で極めて重要です。本研究会では、電気機器が人々の社会生活を支える比重が今後さらに高まっていく状況を踏まえて、電源システムの品質を支える半導体や磁性部品の検査・解析技術、蓄電池の診断技術、電源品質の計測・解析技術などを紹介いただき、議論いたします。また、最近話題となっているスマートエネルギーを取り巻く動向についてもご紹介いただきます。

(1) 13:00 - 13:45
半導体の検査、解析技術
真島敏幸（ルネサスエレクトロニクス）

(2) 13:45 - 14:30
電源設計に活用できる最新回路・磁気シミュレーション技術
堀内智哉（アンシス・ジャパン）

(3) 14:30 - 15:15
蓄電池診断装置
長嶋茂（古河電池）

−−−　休憩　（ 10分）　−−−

(4) 15:25 - 16:10
設備における電源品質計測と解析
竹内勝広（日置電機）

(5) 16:10 - 17:00
スマートメーターとHANの技術動向
水城官和（Wireless Glue Networks Inc.）・正田博之（日本テキサス・インスツルメンツ）

一般講演：発表 35 分＋質疑応答 10 分

◆IEEE Power Electronics Society Japan Chapter共催

◎【参加費】3,000円（資料代を含む）［当日受付でお支払いください。］
◎研究会に参加ご希望の方は、11月30日（火）までに問合先(takeuchi.akira@lab.ntt.co.jp)へお申込みをお願い致します。⇒【12月3日（金）】まで延長します。
※準備の都合上、できる限り予約申込みをお願い致します。当日参加できなくなりましても、キャンセル料はいただきません。

☆EE研究会今後の予定　[ ]内発表申込締切日

2011年1月27日(木)～28日(金)　崇城大学　[11月10日(水)]　テーマ：スマートグリッド分野のエネルギー変換技術関連，一般
2011年2月10日(木)　機械振興会館　[12月13日(月)]　テーマ：電池技術関連，一般

【問合先】
竹内章（NTT環境エネルギー研究所）
TEL0422-59-2027,FAX0422-59-5682
E-mail: