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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 馬渡 宏泰 (NTT)
副委員長 弓削 哲史 (防衛大)
幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)
幹事補佐 マラット ザニケエフ (九工大)， 田村 信幸 (法政大)

機構デバイス研究会（EMD） [schedule] [select]
専門委員長 関川 純哉 (静岡大)
副委員長 阿部 宜輝 (NTT)
幹事 澤田 滋 (住友電装)， 鈴木 健司 (富士電機機器制御)
幹事補佐 和田 真一 (TMCシステム)

日時 2016年 2月19日(金)　13:20 - 16:00
議題 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジー研究会、IEEE CPMT JAPAN、IEEE Reliability Society Japan Chapter、 協賛：日本信頼性学会） 
会場名 あざれあ(静岡市) 
住所 〒422-8063 静岡市駿河区馬渕1丁目17-1
交通案内 静岡駅から国道１号沿いに西へ（安倍川の方へ）歩いて9分
http://www.azarea-navi.jp/shisetsu/access/
会場世話人
連絡先		 矢崎総業株式会社 技術研究所 信頼性基盤技術研究部 杉山善崇
054-255-8440（会場）
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 継電器コンタクトテクノロジ研究会共催 日本信頼性学会協賛
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

2月19日(金) 午後 
13:15 - 14:35
  13:15-13:20 委員長挨拶　（ 5分 ）
(1) 13:20-13:45 ナノマニピュレーターを用いたコネクタ接点における接触構造と接触抵抗変化の挙動解析 R2015-65 EMD2015-93 ○豊泉　隼・大沼雅則・近藤貴哉（矢崎部品）・森　喜久男（矢崎総業）・清水哲夫・川端澄子・渡 邉 騎通（産総研）
(2) 13:45-14:10 交流インピーダンス法による電気接点に介在するコンタクトオイルの状態評価 R2015-66 EMD2015-94 ○寺岡史貴・飯田和生（三重大）・澤田　滋・清水　敦（オートネットワーク技研）
(3) 14:10-14:35 電気接点対を接触させたときの接触抵抗の時間変化(その6) R2015-67 EMD2015-95 ○宮重敬太・関川純哉（静岡大）
  14:35-14:45 休憩　（ 10分 ）
2月19日(金) 午後 
14:45 - 16:00
(4) 14:45-15:10 磁気吹き消しされる開離時アークの高分子材料を用いた移動制限 R2015-68 EMD2015-96 ○加藤圭佑・関川純哉（静岡大）
(5) 15:10-15:35 光コネクタ接続部の微小変形に関する研究(2) R2015-69 EMD2015-97 ○青野志郎・境目賢義・三枝大祐・長瀬　亮（千葉工大）
(6) 15:35-16:00 JIS Z 8115ディペンダビリティ用語改正の動向と課題 ～ 故障とフォールトの関連用語を中心に ～ R2015-70 EMD2015-98 ○原田文明（FXAT）・益田昭彦（R7工房）・西　干機（DNV）・後藤博之（FDK）・川島　興（オリエンタルモーター）
  16:00-16:05 委員長挨拶　（ 5分 ）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 岡村 寛之（広島大）
E--mail: l-u 
EMD 機構デバイス研究会（EMD）   [今後の予定はこちら]
問合先 関川 純哉（静岡大学）
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E--mail: tjkipc
久我 宣裕（横浜国立大学）
TEL (045)339-4279、FAX (045)339-4279
E--mail: y
澤田 滋（住友電装）
TEL (059)382-8654、FAX (059)382-8591
E--mail: ge-sws
阿部 宜輝（NTTデバイスイノベーションセンタ）
TEL (046)240-2262、FAX (046)270-6421
E--mail: abe 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2016-01-28 15:26:18


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