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ディペンダブルコンピューティング研究会(DC) [schedule] [select]
専門委員長 米田 友洋 (NII)
副委員長 梶原 誠司 (九工大)
幹事 北神 正人 (千葉大), 中尾 教伸 (ルネサス エレクトロニクス)

日時 2011年 2月14日(月) 10:00 - 16:30
議題 VLSI設計とテストおよび一般 
会場名 機械振興会館地下3階1号室 
住所 〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8
交通案内 東京メトロ日比谷線「神谷町」駅下車徒歩約7分,都営大江戸線「赤羽橋」駅下車徒歩約8分,都営三田線「御成門」駅下車徒歩約10分,都営浅草線「大門」駅下車徒歩約15分.
http://www.jspmi.or.jp/mapright.htm
会場世話人
連絡先
梶原誠司(九工大), 細川利典(日大)
お知らせ ◎会場の部屋番号が間違っていたので修正しました.

2月14日(月) 午前  低消費電力テスト・メモリテスト
座長: 細川 利典(日大)
10:00 - 10:50
(1) 10:00-10:25 メモリテストプロセッサを用いたDDR3メモリモジュールテスタの開発 ○浅川 毅・松埜 智(東海大)・土屋秀和(日立ハイテクエンジニアリングサービス)・関 達也・熊澤慎一(テクニカ)
(2) 10:25-10:50 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定 ○坂井僚太・宮瀬紘平・温 暁青(九工大)・麻生正雄・古川 寛(ルネサス マイクロシステム)・大和勇太(福岡県産業・科学技術振興財団)・梶原誠司(九工大)
  10:50-11:00 休憩 ( 10分 )
2月14日(月) 午前  フィールドテスト・製造ばらつき
座長: 高橋 寛(愛媛大)
11:00 - 12:15
(3) 11:00-11:25 製造ばらつきを考慮したフィールドテストのためのクリティカルパス解析 ○柏崎智史・細川利典(日大)・吉村正義(九大)
(4) 11:25-11:50 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ ○新谷道広・畠山一実・相京 隆(半導体理工学研究センター)
(5) 11:50-12:15 テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法 ○小副川絵美子・米田友和・井上美智子・藤原秀雄(奈良先端大/JST)
  12:15-13:45 昼食 ( 90分 )
2月14日(月) 午後  テスト生成
座長: 梶原 誠司(九工大)
13:45 - 15:00
(6) 13:45-14:10 高精度遅延テストのためのテストパターン生成法 ○堀 慧悟(奈良先端大)・米田友和・井上美智子・藤原秀雄(奈良先端大/JST)
(7) 14:10-14:35 機能的時間展開モデルを用いたデータパス回路のテスト生成法 ○早川鉄平・細川利典(日大)・吉村正義(九大)
(8) 14:35-15:00 欠陥検出テストのためのテストパターン選択 ○古谷博司・酒井孝郎・樋上喜信・高橋 寛(愛媛大)
  15:00-15:15 休憩 ( 15分 )
2月14日(月) 午後  ディペンダブル・回路・検証
座長: 米田 友和(奈良先端大)
15:15 - 16:30
(9) 15:15-15:40 一次元FPGAアレイから二次元アレイに拡張したCIP回路 ○黎 江・高橋健一・田向 権・関根優年(東京農工大)
(10) 15:40-16:05 ノイズパルスを考慮したデュアルエッジトリガフリップフロップの提案 ○三浦幸也(首都大東京)
(11) 16:05-16:30 再構成可能オンチップデバッグ回路の面積削減に関する一考察 新井雅之・○田畑嘉裕・岩崎一彦(首都大東京)

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
DC ディペンダブルコンピューティング研究会(DC)   [今後の予定はこちら]
問合先 北神正人
〒263-8522 千葉市稲毛区弥生町1-33
千葉大学大学院融合科学研究科
TEL/FAX 043-290-3254
E--mail:fultyba-u 
お知らせ ◎最新情報は,DC研究会ホームページを御覧下さい.
http://www.ieice.org/iss/dc/jpn/index.html


Last modified: 2011-01-21 09:46:15


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