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★信頼性研究会（R） 専門委員長 渡邉 均 (東京理科大) 副委員長 木村 光宏 (法政大) 幹事 馬渡 宏泰 (NTT)， 田村 信幸 (法政大) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)， マラット ザニケエフ (東京理科大) 日時 2011年11月18日(金) 13：00～15：00 会場 中央電気倶楽部（〒530-0004 大阪市北区堂島浜2-1-25．JR大阪駅から徒歩１２分あるいは地下鉄四つ橋線西梅田駅から６分．http://www.chuodenki-club.or.jp/．登川一郎．06-6345-6351） 議題 電子デバイスの信頼性，信頼性一般 11月18日(金) 午後 （13：00～15：00） (1) 13:00 - 13:25 2つのテストチームによる2段階ソフトウェアテストに関する考察 ○木村光宏（法政大）・藤原隆次（SRATECH Lab.） (2) 13:25 - 13:50 非定常ポアソン過程の階層ベイズモデルに基づく計数データの信頼性解析 ○貝瀬 徹（兵庫県立大） −−− 休憩 （ 20分 ） −−− (3) 14:10 - 14:35 銀-エポキシ系導電性接着剤の耐湿性試験条件の検討 ○平田拓哉・青木雄一（エスペック） (4) 14:35 - 15:00 ライフ・エンド評価の一考察（２） ～ FMEAの検討 ～ ○伊藤貞則（イトケン事務所） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月16日(金) 機械振興会館 [10月17日(月)] テーマ：信頼性国際規格，保全性，信頼性一般 2012年2月17日(金) オムロンラーニングセンタ [12月14日(水)] テーマ：機構デバイスの信頼性,信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会，協賛：IEEE CPMT JAPAN) 【問合先】 田村信幸（法政大学） TEL 042-387-6262 FAX 042-387-6126 E-mail:       i Last modified: 2011-09-27 13:06:23 |
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