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信頼性研究会(R) [schedule] [select]
専門委員長 渡邉 均 (東京理科大)
副委員長 木村 光宏 (法政大)
幹事 馬渡 宏泰 (NTT), 田村 信幸 (法政大)
幹事補佐 安里 彰 (富士通), 岡村 寛之 (広島大), マラット ザニケエフ (東京理科大)

日時 2012年11月15日(木) 14:00 - 17:30
議題 半導体と電子デバイスの信頼性,信頼性一般 
会場名 中央電気倶楽部 
住所 〒530-0004 大阪市北区堂島浜2丁目1番25号
交通案内 http://www.chuodenki-club.or.jp/map/map.html
会場世話人
連絡先
杉谷全令
06-6345-6351
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛
著作権に
ついて
以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.
(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

11月15日(木) 午後 
14:00 - 17:30
(1) 14:00-14:25 ソフトウェア開発属性データを用いたニューラルネットワークによる潜在フォールト数の予測 R2012-60 嶋田遼平木村光宏法政大
(2) 14:25-14:50 協調知識情報を考慮したワイブル分布の階層ベイズモデルと計算推論に基づくソフトウェアの信頼性解析 R2012-61 貝瀬 徹兵庫県立大
(3) 14:50-15:15 プリント基板絶縁劣化のスクリーニング技術 R2012-62 黒川博志菱電化成)・松岡敏成八木 超三菱電機
(4) 15:15-15:40 MEMS薄膜の湿度による破断メカニズムと湿度試験の加速性 R2012-63 松井悦子中尾太一新谷淳一オムロン
  15:40-15:50 休憩 ( 10分 )
(5) 15:50-16:15 チップセラミックコンデンサによる基板発火延焼の一考察 R2012-64 岩谷康次郎柳井健太郎真鍋里美オムロン
(6) 16:15-16:40 リチウムイオン二次電池の安全性と評価試験 R2012-65 岡本 学河合秀己奥山 新青木雄一エスペック
(7) 16:40-17:05 焼損再現実験 R2012-66 池本 裕・○小松泰之クオルテック
(8) 17:05-17:30 海外調達基板の評価方法の一考察 R2012-67 伊藤貞則イトケン事務所

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会(R)   [今後の予定はこちら]
問合先 田村信幸(法政大学)
TEL 042-387-6262
FAX 042-387-6126
E-: i 


Last modified: 2012-09-21 09:59:47


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