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★信頼性研究会（R） 専門委員長 弓削 哲史 (防衛大) 副委員長 安里 彰 (富士通) 幹事 田村 信幸 (法政大)， 平栗 滋人 (鉄道総研) 幹事補佐 井上 真二 (関西大)， 岡村 寛之 (広島大) 日時 2018年11月15日(木) 14：00～16：20 会場 中央電気倶楽部（〒５３０－０００４ 大阪市北区堂島浜２丁目１番２５号．◎大阪駅より徒歩約12分 ◎JR北新地駅より徒歩6分 ◎地下鉄四ツ橋線西梅田駅より徒歩6分 ◎京阪中之島線渡辺橋駅より徒歩5分．http://www.chuodenki-club.or.jp．柳井健太郎（オムロン（株））．06-6345-6351（会場）） 議題 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 11月15日(木) 午後 （14：00～16：20） (1) 14:00 - 14:25 湿度加速試験一考察（その2） ○伊藤貞則（イトケン事務所） (2) 14:25 - 14:50 ステップストレス試験結果に基づく加速モデルの選択(2) ○松岡敏成（三菱電機） −−− 休憩 （ 15分 ） −−− (3) 15:05 - 15:30 深層学習を用いた階層ベイズモデルに基づく信頼性解析 ○貝瀬 徹（兵庫県立大） (4) 15:30 - 15:55 故障件数データのベイズ統計解析に関する考察 ○貝瀬 徹（兵庫県立大） (5) 15:55 - 16:20 共通原因故障解析に関するいくつかの話題 ○弓削哲史（防衛大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆日本信頼性学会関西支部，IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月15日(土) 沖縄県立宮古青少年の家 [10月15日(月)] テーマ：保全性，信頼性一般 2019年2月15日(金) パナソニック企業年金基金 松心会館 [12月20日(木)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般 （共催：信頼性研究会，継電器・コンタクトテクノロジ研究会，IEEE EPS JAPAN） 【問合先】 岡村 寛之（広島大） E-mail:        -u Last modified: 2018-09-21 15:22:03 |
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