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★信頼性研究会(R)
専門委員長 弓削 哲史 (防衛大)  副委員長 安里 彰 (富士通)
幹事 田村 信幸 (法政大), 平栗 滋人 (鉄道総研)
幹事補佐 井上 真二 (関西大), 岡村 寛之 (広島大)

日時 2018年11月15日(木) 14:00~16:20

会場 中央電気倶楽部(〒530-0004 大阪市北区堂島浜2丁目1番25号.◎大阪駅より徒歩約12分 ◎JR北新地駅より徒歩6分 ◎地下鉄四ツ橋線西梅田駅より徒歩6分 ◎京阪中之島線渡辺橋駅より徒歩5分.http://www.chuodenki-club.or.jp.柳井健太郎(オムロン(株)).06-6345-6351(会場))

議題 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般

11月15日(木) 午後 (14:00~16:20)

(1) 14:00 - 14:25
湿度加速試験一考察(その2)
○伊藤貞則(イトケン事務所)

(2) 14:25 - 14:50
ステップストレス試験結果に基づく加速モデルの選択(2)
○松岡敏成(三菱電機)

−−− 休憩 ( 15分 ) −−−

(3) 15:05 - 15:30
深層学習を用いた階層ベイズモデルに基づく信頼性解析
○貝瀬 徹(兵庫県立大)

(4) 15:30 - 15:55
故障件数データのベイズ統計解析に関する考察
○貝瀬 徹(兵庫県立大)

(5) 15:55 - 16:20
共通原因故障解析に関するいくつかの話題
○弓削哲史(防衛大)

一般講演:発表 20 分 + 質疑応答 5 分

◆日本信頼性学会関西支部,IEEE Reliability Society Japan Chapter共催


☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

12月15日(土) 沖縄県立宮古青少年の家 [10月15日(月)] テーマ:保全性,信頼性一般
2019年2月15日(金) パナソニック企業年金基金 松心会館 [12月20日(木)] テーマ:機構デバイスの信頼性、信頼性一般 (共催:信頼性研究会,継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE EPS JAPAN)

【問合先】
岡村 寛之(広島大)
E-mail: -u


Last modified: 2018-09-21 15:22:03


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