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★機構デバイス研究会(EMD)
専門委員長 吉田 清 (日本工大)  副委員長 長谷川 誠 (千歳科技大)
幹事 関川 純哉 (静岡大), 久我 宣裕 (横浜国大)
幹事補佐 服部 康弘 (住友電装)

日時 2011年 1月28日(金) 13:00~16:30

会場 日本航空電子工業株式会社(東京都昭島市武蔵野3-1-1.JR青梅線中神駅より徒歩15分.http://www.jae.co.jp/intro/mp_akisima.html.佐藤 一臣.042-549-9262)

議題 一般

1月28日(金) 午後 (13:00~16:30)

(1) 13:00 - 13:25
炭素アーク電圧電流特性に関する一考察
○須原啓一(東京高専)

(2) 13:25 - 13:50
錫めっき摺動接点の三次元微細構造
○伊藤哲也・荻原 茂・服部康弘(オートネットワーク技研)

(3) 13:50 - 14:15
錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定
○増井壮志・澤田 滋・玉井輝雄(三重大)・服部康弘(オートネットワーク技研)・飯田和生(三重大)

(4) 14:15 - 14:40
錫めっき接点の形状と荷重に関する微摺動特性
○田井富茂・古本哲也(日本航空電子)

−−− 休憩 ( 10分 ) −−−

(5) 14:50 - 15:15
同軸マルチコアPOFを用いた光回転リンクジョイントの構成法に関する研究
○蒲 和也・川島 信(中部大)・川端俊介(伊原電子)・佐生誠司(旭化成イーマテリアルズ)

(6) 15:15 - 15:40
印刷銀配線板におけるイオンマイグレーション抑制におよぼす樹脂-クレイハイブリッド化合物の効果
○大谷泰之・中島伸一郎(日本航空電子)

(7) 15:40 - 16:05
タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(1) ~
○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳 国男・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・久我宣裕(横浜国大)・澤 孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)

(8) 16:05 - 16:30
タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(2) ~
○越田圭治・和田真一・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・久我宣裕(横浜国大)・澤 孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)

一般講演:発表 20 分 + 質疑応答 5 分


☆EMD研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日

2月18日(金) 静岡大学(浜松キャンパス) [12月14日(火)] テーマ:機構デバイスの信頼性、信頼性一般(共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN)
3月4日(金) 日本工業大学 [1月17日(月)] テーマ:卒論・修論特集(ショートノート)
4月 休会

【問合先】
長谷川 誠(千歳科学技術大学)
TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059
E-mail: pn
関川 純哉(静岡大学)
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E-mail: tjkipc
服部 康弘(住友電装)
TEL (059)382-8970、FAX (059)382-8591
E-mail: -tsws

◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2011-01-25 18:31:18


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