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機構デバイス研究会(EMD) [schedule] [select]
専門委員長 吉田 清 (日本工大)
副委員長 長谷川 誠 (千歳科技大)
幹事 関川 純哉 (静岡大), 久我 宣裕 (横浜国大)
幹事補佐 服部 康弘 (住友電装)

日時 2011年 1月28日(金) 13:00 - 16:30
議題 一般 
会場名 日本航空電子工業株式会社 
住所 東京都昭島市武蔵野3-1-1
交通案内 JR青梅線中神駅より徒歩15分
http://www.jae.co.jp/intro/mp_akisima.html
会場世話人
連絡先
佐藤 一臣
042-549-9262

1月28日(金) 午後 
13:00 - 16:30
(1) 13:00-13:25 炭素アーク電圧電流特性に関する一考察 ○須原啓一(東京高専)
(2) 13:25-13:50 錫めっき摺動接点の三次元微細構造 ○伊藤哲也・荻原 茂・服部康弘(オートネットワーク技研)
(3) 13:50-14:15 錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定 ○増井壮志・澤田 滋・玉井輝雄(三重大)・服部康弘(オートネットワーク技研)・飯田和生(三重大)
(4) 14:15-14:40 錫めっき接点の形状と荷重に関する微摺動特性 ○田井富茂・古本哲也(日本航空電子)
  14:40-14:50 休憩 ( 10分 )
(5) 14:50-15:15 同軸マルチコアPOFを用いた光回転リンクジョイントの構成法に関する研究 ○蒲 和也・川島 信(中部大)・川端俊介(伊原電子)・佐生誠司(旭化成イーマテリアルズ)
(6) 15:15-15:40 印刷銀配線板におけるイオンマイグレーション抑制におよぼす樹脂-クレイハイブリッド化合物の効果 ○大谷泰之・中島伸一郎(日本航空電子)
(7) 15:40-16:05 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(1) ~ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳 国男・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・久我宣裕(横浜国大)・澤 孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)
(8) 16:05-16:30 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(2) ~ ○越田圭治・和田真一・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・久我宣裕(横浜国大)・澤 孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
EMD 機構デバイス研究会(EMD)   [今後の予定はこちら]
問合先 長谷川 誠(千歳科学技術大学)
TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059
E-: pn
関川 純哉(静岡大学)
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E-: tjkipc
服部 康弘(住友電装)
TEL (059)382-8970、FAX (059)382-8591
E-: -tsws 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2011-01-25 18:31:18


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