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電子部品・材料研究会(CPM) [schedule] [select]
専門委員長 安井 寛治 (長岡技科大)
副委員長 竹村 泰司 (横浜国大)
幹事 今井 欽之 (NTT), 野毛 悟 (沼津高専)
幹事補佐 島村 俊重 (NTT), 阿部 克也 (信州大)

レーザ・量子エレクトロニクス研究会(LQE) [schedule] [select]
専門委員長 河口 仁司 (奈良先端大)
副委員長 勝山 造 (住友電工)
幹事 佐藤 健二 (NEC), 宮本 智之 (東工大)

電子デバイス研究会(ED) [schedule] [select]
専門委員長 橋詰 保 (北大)
副委員長 加地 徹 (豊田中研)
幹事 原 直紀 (富士通研), 津田 邦男 (東芝)
幹事補佐 須原 理彦 (首都大東京), 上田 哲三 (パナソニック)

日時 2010年11月11日(木) 10:00 - 17:15
2010年11月12日(金) 10:00 - 17:00
議題 窒化物および混晶半導体デバイス 
会場名 大阪大学 中ノ島センター 10Fホール 
住所 〒530-0005 大阪市北区中之島4-3-53
交通案内 京阪中之島線 中之島駅より 徒歩約5分または地下鉄四つ橋線 肥後橋駅より 徒歩約10分
http://www.onc.osaka-u.ac.jp/others/map/index.php
会場世話人
連絡先
パナソニック 上田哲三
06-6444-21
お知らせ ◎11日研究会終了後、懇親会を予定していますのでご参加下さい。
日時:2010年11月11日(木) 17:30開始
場所:大阪大学 中ノ島センター9F 交流サロン
(研究会会場の下の階です。)
会費:一般 \3,500、学生¥2,000

11月11日(木) 午前 
10:00 - 11:40
(1) 10:00-10:25 触媒反応により生成した高エネルギーH2Oを用いてサファイア基板上に成長したZnO結晶薄膜の光学特性 三浦仁嗣・大谷孝史・黒田朋義・西山 洋・○安井寛治(長岡技科大)
(2) 10:25-10:50 RF-MBE法を用いたr面サファイア基板上A面InN結晶高品質化に関する検討 ○荒木 努・川島圭介・山口智広(立命館大)・名西やすし(立命館大/ソウル国立大)
(3) 10:50-11:15 疑似(111)Al基板上GaN薄膜のRF-MBE成長 ○本田 徹・林 才人・後藤大雅・井垣辰浩(工学院大)
(4) 11:15-11:40 Si基板上へのGaNP層及びInAs系量子ドット成長の検討 ○田辺 悟・西尾 礼・小林由貴・根本幸祐・宮本智之(東工大)
11月11日(木) 午後 
13:00 - 17:15
(5) 13:00-13:25 SiCを基板に用いた減圧HVPE法によるAlN成長 ○奥村建太・野村拓也・三宅秀人・平松和政(三重大)・江龍 修(名工大)
(6) 13:25-13:50 減圧HVPE法による周期溝加工AlN/サファイア上へのELO-AlN ○藤田浩平・三宅秀人・平松和政(三重大)・乗松 潤・平山秀樹(理研)
(7) 13:50-14:15 電子線励起法による深紫外光源用 Si-doped AlGaN の作製と特性評価 ○島原佑樹・三宅秀人・平松和政(三重大)・福世文嗣・岡田知幸・高岡秀嗣・吉田治正(浜松ホトニクス)
  14:15-14:30 休憩 ( 15分 )
(8) 14:30-14:55 非極性InGaN量子井戸における偏光特性の既報告実験データの統一的解釈 ○山口敦史(金沢工大)・小島一信(京大)
(9) 14:55-15:20 空間時間分解PLによるInGaN/GaN単一量子井戸のキャリア拡散ダイナミクスの評価 ~ SNOMによるEfficiency droop機構の解明 ~ ○橋谷 享・金田昭男・船戸 充・川上養一(京大)
(10) 15:20-15:45 電子線励起したAlGaN/AlN量子井戸からの100 mW深紫外発光 ○大音隆男・Ryan G. Banal(京大)・片岡 研(ウシオ電機)・船戸 充・川上養一(京大)
(11) 15:45-16:10 AlNテンプレート上高効率AlInN紫外線受光素子 ○酒井佑輔・市川淳規・江川孝志(名工大)
  16:10-16:25 休憩 ( 15分 )
(12) 16:25-16:50 多重台形ナノチャネルAlGaN/GaN HEMTの電流制御性 ○大井幸多(北大)・橋詰 保(北大/JST)
(13) 16:50-17:15 ミリ波高出力GaN-HEMT ○牧山剛三・多木俊裕・岡本直哉・金村雅仁・増田 哲・中舍安宏・常信和清・今西健治(富士通/富士通研)・原 直紀・尾崎史朗・中村哲一(富士通研)・吉川俊英(富士通/富士通研)
11月12日(金) 午前 
10:00 - 11:40
(14) 10:00-10:25 GaNおよびAlGaN/GaN構造への絶縁ゲート形成と評価 ○堀 祐臣・原田脩央・水江千帆子(北大)・橋詰 保(北大/JST)
(15) 10:25-10:50 硬X線光電子分光法によるp型GaNのドライエッチングダメージ評価 ○菊田大悟・成田哲生・高橋直子・片岡恵太・木本康司・上杉 勉・加地 徹(豊田中研)・杉本雅裕(トヨタ自動車)
(16) 10:50-11:15 GaN自立基板を用いた縦型ダイオード ○八木修一・平田祥子・住田行常・別所公博・河合弘治(パウデック)・松枝敏晴・碓井 彰(古河機械金属)
(17) 11:15-11:40 低転位GaN基板上縦型HFET ○岡田政也・斎藤 雄・横山満徳・中田 健・八重樫誠司・片山浩二・上野昌紀・木山 誠・勝山 造・中村孝夫(住友電工)
11月12日(金) 午後 
13:00 - 17:00
  - 【パネルセッション】「GaNトランジスターの進展と課題」
1)ノーマリオフのためのデバイス構造(70分) 司会:橋詰保(北大)
(休憩10分)
2)電流変動(コラプス)の機構と制御法(70分) 司会:橋詰保(北大)
(休憩10分)
3)GaNデバイスの長所・弱点(70分) 司会:加地徹(豊田中研)

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
CPM 電子部品・材料研究会(CPM)   [今後の予定はこちら]
問合先  
LQE レーザ・量子エレクトロニクス研究会(LQE)   [今後の予定はこちら]
問合先 佐藤 健二(日本電気株式会社)
TEL 044-431-7616, FAX 044-431-7619
E--mail: snc

宮本 智之(東京工業大学)
TEL 045-924-5059, FAX 045-924-5977
E--mail: ttpi 
お知らせ ◎LQE研究会ホームページ http://www.ieice.org/~lqe/jpn/
◎LQE研究会では 平成18年度より「LQE奨励賞」を設けました。対象は発表年度の4月1日時点で32歳以下の若手研究者(学生を含む)です。積極的にご投稿下さい。
ED 電子デバイス研究会(ED)   [今後の予定はこちら]
問合先 原 直紀 (富士通研究所)
TEL : 046-250-8242、FAX : 046-250-8168
E--mail : o
津田 邦男(東芝)
TEL : 044-549-2142、FAX : 044-520-1501
E--mail : oba
須原 理彦(首都大)
TEL : 042-677-2765 Fax : 042-677-2756
E--mail : t
上田 哲三(パナソニック)
TEL:075-956-8273、FAX:075-956-9110
E--mailzopac 


Last modified: 2010-11-05 13:44:13


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