研究会情報 |
研究会 |
CW |
開催期間 |
2019-03-01 - 2019-03-01 |
開催地(和) |
NEC玉川事業場 |
開催地(英) |
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テーマ(和) |
表現のためのサイバーワールドおよび一般 |
テーマ(英) |
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講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
CW |
会議コード |
2019-03-CW |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
AD Strips劣化度自動判定アプリの開発 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
The Development of AD-Strips Degradation-Level Auto-Classification System |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
マイクロフィルム / Microfilms |
キーワード(2)(和/英) |
自動判定 / Auto-Classification |
キーワード(3)(和/英) |
ADストリップ / A-D Strips |
キーワード(4)(和/英) |
Webアプリケーション / Web application |
キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
庄司 智明 / Tomoaki Shoji / ショウジ トモアキ |
第1著者 所属(和/英) |
中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
樋山 直樹 / Naoki Hiyama / ヒヤマ ナオキ |
第2著者 所属(和/英) |
中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
飯尾 淳 / Jun Iio / イイオ ジュン |
第3著者 所属(和/英) |
中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第4著者 所属(和/英) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 所属(和/英) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 所属(和/英) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第7著者 所属(和/英) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 所属(和/英) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 所属(和/英) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 所属(和/英) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 所属(和/英) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
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発表時間 |
分 |
申込先研究会 |
CW |
資料番号 |
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巻番号(vol) |
vol. |
号番号(no) |
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ページ範囲 |
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ページ数 |
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発行日 |
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