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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2022-07-19 17:05 レーザー検知機能付き暗号回路のダブルスポットレーザーによるセキュリティ評価 ○近野真生・吉田直樹・坂本純一・林 俊吾・松本 勉（横浜国大）  ISEC2022-16 SITE2022-20 BioX2022-41 HWS2022-16 ICSS2022-24 EMM2022-24 |
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| 抄録 | （和） | フォールト攻撃は，デバイスに意図的にフォールト（障害）を注入して誤動作を引き起こし，それを観測して内部の秘密情報を解析しようと試みる攻撃方法である．精密なフォールト注入が可能であるレーザー照射を利用する攻撃は特に強力であり，それに対する対策技術の開発が求められている．本稿では，先行研究で提案されたフルディジタルのレーザー検知回路を含むFPGA実装の暗号回路でシングルレーザー照射攻撃には耐えられるとされるものに対し、ダブルスポットレーザー照射によるセキュリティ評価を行った結果を報告する． |
| （英） | A fault injection attack is an attack method that intentionally injects faults into a device to cause it to malfunction, and then attempts to observe the malfunction and analyze the internal confidential information. Attacks using laser irradiation, which enables precise fault injection, are particularly powerful, and development of countermeasures against them is required. In this article, we report the results of security evaluation by double-spot laser irradiation against an FPGA-implemented cryptographic circuit including a full-digital laser detection circuit proposed in a previous study, which is said to withstand a single laser irradiation attack. | |
| キーワード | （和） | 実装攻撃 / フォールト攻撃 / レーザー / レーザー検知 / セキュリティ / FPGA / / |
| （英） | Implementation Attack / Fault Injection Attack / Laser / Laser Detection / Security / FPGA / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 122, no. 125, HWS2022-16, pp. 52-57, 2022年7月. | |
| 資料番号 | HWS2022-16 | |
| 発行日 | 2022-07-12 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ISEC2022-16 SITE2022-20 BioX2022-41 HWS2022-16 ICSS2022-24 EMM2022-24 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMM BioX ISEC SITE ICSS HWS IPSJ-CSEC IPSJ-SPT |
| 開催期間 | 2022-07-19 - 2022-07-20 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | セキュリティ、一般 （セキュリティサマーサミット2022） |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2022-07-EMM-BioX-ISEC-SITE-ICSS-HWS-CSEC-SPT |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | レーザー検知機能付き暗号回路のダブルスポットレーザーによるセキュリティ評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Security Evaluation of Cryptographic Circuits with Laser Sensors by Double-Spot Laser Irradiation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 実装攻撃 / Implementation Attack |
| キーワード(2)（和/英） | フォールト攻撃 / Fault Injection Attack |
| キーワード(3)（和/英） | レーザー / Laser |
| キーワード(4)（和/英） | レーザー検知 / Laser Detection |
| キーワード(5)（和/英） | セキュリティ / Security |
| キーワード(6)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 近野 真生 / Masaki Chikano / |
| 第1著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： YNU) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉田 直樹 / Naoki Yoshida / |
| 第2著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： YNU) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坂本 純一 / Junichi Sakamoto / |
| 第3著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： YNU) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 俊吾 / Syungo Hayashi / |
| 第4著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： YNU) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto / |
| 第5著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： YNU) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2022-07-19 17:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | ISEC2022-16, SITE2022-20, BioX2022-41, HWS2022-16, ICSS2022-24, EMM2022-24 |
| 巻番号（vol） | vol.122 |
| 号番号（no） | no.122(ISEC), no.123(SITE), no.124(BioX), no.125(HWS), no.126(ICSS), no.127(EMM) |
| ページ範囲 | pp.52-57 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2022-07-12 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) |
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