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講演抄録/キーワード
講演名 2022-07-19 11:10
拡張タイムドメインリフレクトメトリによる過渡インピーダンスの計測とデバイス動作の時間分解解析
酒井正俊戒能 智益子朋晃黒政 颯高野晃希藤井伸太郎工藤一浩千葉大OME2022-22
抄録 (和) 電子デバイスに電圧が印加され始めてから定常状態に至るまでの時間はナノ秒からミリ秒程度であり、人間がそのデバイスの立ち上がり時間を意識することは日常的にはない。ただ、新規デバイスの開発の最前線では、新規開発されるデバイスの動作のボトルネックがどこにあるかを知る必要があり、デバイスのキャリアダイナミクスの時間分解測定が欠かせない。我々は、電子デバイスのキャリアダイナミクスを時間分解観測する手法として、拡張タイムドメインリフレクトメトリ(Extended Time Domain Reflectometry : ExTDR)を提案してきた。その元となったタイムドメインリフレクトメトリは、インピーダンス不整合点において高周波信号の反射が生じることと、その反射波形が反射点のインピーダンスを反映することを利用したインピーダンスの測定法であった。我々はそのタイムドメインリフレクトメトリを拡張してExTDRを提案し、これまで有機薄膜トランジスタ(OTFT)や有機LED(OLED)に適用してその有効性を確かめてきた。さらに、同期光パルスと組み合わせることによって光TDRも開発し、その結果を有機薄膜太陽電池(OPV)に適用してきた。本発表では、拡張タイムドメインリフレクトメトリおよび光TDR の原理と、OTFT, OLED, OPV動作のナノ秒時間分解観測事例を紹介する。 
(英) It takes nanoseconds to milliseconds for an electronic device to arrive at one’s steady state from the beginning of the voltage application, so we usually do not perceive this time. However, observation of the transient state during the device rising time is crucial in the frontline of the novel device development because they have to know where is the bottleneck of the present device structure. We have proposed our extended time domain reflectometry (ExTDR) to observe the transient impedance and reveal the carrier dynamics of the electronic devices. Time-domain reflectometry (TDR) was an instantaneous impedance detection method that was used in disconnection detection of long-distance communication cable or soil surveys. In this work, we extended conventional TDR and adopted it to detect the transient impedance of thin-film devices. We have indicated the carrier dynamics in OTFT and OLED. Moreover, we recently developed light synchronized TDR to observe the initial photo-carrier generation process in OPV. We introduce the principle of ExTDR and Light synchronized TDR measurement and examples of carrier dynamics of the OTFT, OLED, and OPV from 10 ns to 10 ms time region.
キーワード (和) 有機トランジスタ / 有機LED / 有機太陽電池 / 時間分解 / インピー^ダンス / / /  
(英) OTFT / OLED / OPV / time-resolved / impedance / / /  
文献情報 信学技報, vol. 122, no. 116, OME2022-22, pp. 42-45, 2022年7月.
資料番号 OME2022-22 
発行日 2022-07-11 (OME) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード OME2022-22

研究会情報
研究会 OME IEE-DEI  
開催期間 2022-07-18 - 2022-07-19 
開催地(和) 軽井沢観光振興センター会議室 
開催地(英) Karuizawa-machi Tourism promotion center 
テーマ(和) 有機薄膜,有機・バイオデバイス,一般 
テーマ(英) Organic film, Organic-Bio devices, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 OME 
会議コード 2022-07-OME-DEI 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 拡張タイムドメインリフレクトメトリによる過渡インピーダンスの計測とデバイス動作の時間分解解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Time resolved measurement of transient impedance in thin film devices by extended and light synchronized time domain reflectometry 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 有機トランジスタ / OTFT  
キーワード(2)(和/英) 有機LED / OLED  
キーワード(3)(和/英) 有機太陽電池 / OPV  
キーワード(4)(和/英) 時間分解 / time-resolved  
キーワード(5)(和/英) インピー^ダンス / impedance  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 酒井 正俊 / Masatoshi Sakai / サカイ マサトシ
第1著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 戒能 智 / Satoshi Kaino / カイノウ サトシ
第2著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 益子 朋晃 / Tomoaki Mashiko / マシコ トモアキ
第3著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 黒政 颯 / Sou Kuromasa / クロマサ ソウ
第4著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 高野 晃希 / Koki Takano / タカノ コウキ
第5著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤井 伸太郎 / Shintaro Fujii / フジイ シンタロウ
第6著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 工藤 一浩 / Kazuhiro Kudo / クドウ カズヒロ
第7著者 所属(和/英) 千葉大学 (略称: 千葉大)
Chiba University (略称: Chiba Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2022-07-19 11:10:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 OME 
資料番号 OME2022-22 
巻番号(vol) vol.122 
号番号(no) no.116 
ページ範囲 pp.42-45 
ページ数
発行日 2022-07-11 (OME) 


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