研究会情報 |
研究会 |
RECONF |
開催期間 |
2022-06-07 - 2022-06-08 |
開催地(和) |
筑波大学計算科学研究センター |
開催地(英) |
CCS, Univ. of Tsukuba |
テーマ(和) |
リコンフィギャラブルシステム,一般 |
テーマ(英) |
Reconfigurable system, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
RECONF |
会議コード |
2022-06-RECONF |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
光再構成型ゲートアレイVLSIの290 Mradまでのトータルドーズ耐性試験 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
290 Mrad total-ionizing-dose tolerance experiment for an optically reconfigurable gate array VLSI |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(2)(和/英) |
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キーワード(3)(和/英) |
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キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山田 果歩 / Kaho Yamada / ヤマダ カホ |
第1著者 所属(和/英) |
岡山大学 (略称: 岡山大)
Okayama University (略称: Okayama Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
岡崎 武志 / Takeshi Okazaki / オカザキ タケシ |
第2著者 所属(和/英) |
岡山大学 (略称: 岡山大)
Okayama University (略称: Okayama Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
渡邊 実 / Minoru Watanabe / ワタナベ ミノル |
第3著者 所属(和/英) |
岡山大学 (略称: 岡山大)
Okayama University (略称: Okayama Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
渡邊 誠也 / Nobuya Watanabe / ワタナベ ノブヤ |
第4著者 所属(和/英) |
岡山大学 (略称: 岡山大)
Okayama University (略称: Okayama Univ.) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 所属(和/英) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 所属(和/英) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2022-06-07 15:40:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
RECONF |
資料番号 |
RECONF2022-7 |
巻番号(vol) |
vol.122 |
号番号(no) |
no.60 |
ページ範囲 |
pp.37-40 |
ページ数 |
4 |
発行日 |
2022-05-31 (RECONF) |