講演抄録/キーワード |
講演名 |
2022-01-28 14:10
パワーサイクル試験のDUT温度係数依存性 ○秋元健志・大村一郎(九工大) EE2021-48 |
抄録 |
(和) |
パワーサイクル試験はパワー半導体の信頼性試験法の一つである。試験デバイス(DUT: Device Under Test)に対して大きな熱ストレスを通電・遮断により印加し短期間でパワー半導体の寿命を評価する加速試験である。しかし、近年パワーサイクル試験結果の妥当性を疑う報告がなされた。すわなち、DUTの発熱方法を変化させると熱ストレス条件を統一しても試験結果に差が出る事が報告された。本研究ではパワー半導体導通時発熱の温度係数に着目し、異なる温度係数のDUTに対してパワーサイクル試験を実施した。その結果、高い温度係数をもつDUTでは、故障までのサイクル数が著しく少なくなることが分かった。また、サイクル数の少なかったDUTを試験後に分析した結果、電流集中によると思われる破壊痕が確認され、局所的な温度上昇がサイクル数に影響を及ぼしたと考えられる。以上より、パワーサイクル試験結果の解析ではDUTの温度係数についても考慮する必要がある。 |
(英) |
(Not available yet) |
キーワード |
(和) |
パワーサイクル試験 / 温度係数 / 熱暴走 / リフトオフ / / / / |
(英) |
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文献情報 |
信学技報, vol. 121, no. 359, EE2021-48, pp. 96-99, 2022年1月. |
資料番号 |
EE2021-48 |
発行日 |
2022-01-20 (EE) |
ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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EE2021-48 |