お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2021年10月開催~)
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2021-12-10 13:00
低消費電力指向多重目標故障テスト生成法
三浦 怜細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2021-55
抄録 (和) 近年,超大規模集積回路の実速度テスト時におけるキャプチャ消費電力の増大に伴い,低消費電力指向テスト生成手法が提案されている.従来手法では, 自動テスト生成ツール によって生成された初期テスト集合中のキャプチャ消費電力値が閾値以下であるキャプチャセーフテストベクトルに対してドントケア判定を行い,キャプチャアンセーフテストベクトルでのみ検出が可能なアンセーフ故障を検出できるようにドントケア割当てを行うことでキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減した.しかしながら,従来手法において,ドントケア割当てによって検出されるアンセーフ故障数は,キャプチャセーフテストキューブのケアビット箇所に依存し,アンセーフ故障数が効率的に削減できない場合がある.それゆえ,テストベクトル数が初期テスト集合よりも増加する可能性がある. 本論文では 小さなキャプチャセーフテスト集合を生成するために,初期テスト集合の同時検出可能情報を利用した疑似ブール最適化ベース低消費電力指向多重目標故障テスト生成法を提案する.実験結果では,低消費電力が考慮された初期テスト集合と比較して,提案手法は,キャプチャアンセーフテストベクトル数を平均100%,アンセーフ故障数を98%削減することができたことを示す. 
(英) In recent years, since capture power consumption for VLSIs significantly increases in at-speed scan testing, low capture power-oriented test generation methods have been proposed. In the conventional method, a test set is generated using automatic test pattern generators, don't care (X) identification is performed for only capture-safe test vectors in the test set whose capture power consumption is less than or equal to the threshold values. X-filling is performed for capture-safe test cubes in order to detect unsafe faults which are detected only by capture-unsafe test vectors. The numbers of capture-unsafe test vectors and unsafe faults were reduced by the X-filling method. However, in the conventional method, since the number of unsafe faults detected by the X-filling depends on the care bit locations of capture-safe test cubes, the number of unsafe faults might not be efficiently reduced. Therefore, the numbers of capture-safe test vectors might be larger than those of the initial test set. In this paper, to generate a small capture-safe test set, we propose a pseudo-Boolean optimization based low capture power oriented multiple target fault test generation method using the information of simultaneously detectable safe faults by capture-safe test cubes in the initial test set. The experimental results show that our proposed method could reduce the number of capture-unsafe test vectors by 100% and reduce the number of unsafe faults by 98% on the average compared to the initial test set with low power consideration.
キーワード (和) 多重目標故障テスト生成 / キャプチャセーフテストベクトル / アンセーフ故障 / PBO / / / /  
(英) multiple target test generation / capture safe test vector / unsafe fault / PBO / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 121, no. 293, DC2021-55, pp. 1-6, 2021年12月.
資料番号 DC2021-55 
発行日 2021-12-03 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2021-55

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2021-12-10 - 2021-12-10 
開催地(和) 国民宿舎小豆島(ふるさと荘交流センター) 
開催地(英)  
テーマ(和) (第6回) Winter Workshop on Safety(安全性に関する冬のワークショップ) - (共催:日本信頼性学会) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2021-12-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 低消費電力指向多重目標故障テスト生成法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Low Power Oriented Multiple Target Test Generation Method 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 多重目標故障テスト生成 / multiple target test generation  
キーワード(2)(和/英) キャプチャセーフテストベクトル / capture safe test vector  
キーワード(3)(和/英) アンセーフ故障 / unsafe fault  
キーワード(4)(和/英) PBO / PBO  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 三浦 怜 / Rei Miura / ミウラ レイ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ
第4著者 所属(和/英) 京都産業大学 (略称: 京都産大)
Kyoto Sangyou University (略称: Kyoto Sangyou Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ
第5著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者
発表日時 2021-12-10 13:00:00 
発表時間 20 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2021-55 
巻番号(vol) IEICE-121 
号番号(no) no.293 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2021-12-03 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会