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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2021-12-01 14:45 オンチップモニタを用いたダイナミック電圧ドロップ診断 ○門田和樹（神戸大）・レオニダス カタセラス（アリストトゥル大）・フェレンク フォーダー（IMEC）・アルキス ハッツォプーロス（アリストトゥル大）・永田 真（神戸大）・エリック ヤン マリニッセン（IMEC）  VLD2021-31 ICD2021-41 DC2021-37 RECONF2021-39 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2021-41 |
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| 抄録 | （和） | オンチップモニタ回路(OCM)を用いる事により、電源レギュレータモジュール(µVRM)により区切られた電源ドメイン内のダイナミック電圧ドロップ波形を取得する事が出来る。本稿ではOCMを用いて大規模集積回路(VLSI)内の電源ノイズ波形を取得し、電源ノイズ波形から電源ドメイン内の回路のスイッチング数の時間変動を算出する。算出した推測スイッチング数とシミュレーションにより求めたスイッチング数に乖離がある事は(1)評価回路の不良、もしくは(2)テストプログラムの不良のいずれかである事を示唆する。本稿ではOCMで取得した電圧ドロップ波形を用いたトグル診断手法を提案した。さらに、180nm CMOSプロセスでテストチップを作成し、提案手法のデモンストレーションを行った。 |
| （英） | On-chip monitor (OCM) circuits enable us to observe dynamic power-supply (PS) waveforms within power domains individually partitioned by dedicated micro voltage regulator modules (μVRMs). In this paper, OCM is used to diagnose VLSI circuits with a modular power management and the combinational logics are precisely captured in the OCM voltage waveforms. A mismatch between simulation and measurement warns us of either (1) malfunction in the hardware module, or (2) defects in the test program. In this paper, we demonstrate an IR-drop-based toggle diagnosis technique using OCM for a prototype chip in 180 nm CMOS technology. | |
| キーワード | （和） | 電源ノイズ / バックグランド診断 / オンチップモニタリング / 大規模集積回路 / / / / |
| （英） | Power Noise / background diagnosis / on-chip monitoring / VLSI circuits / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 121, no. 278, ICD2021-41, pp. 83-86, 2021年12月. | |
| 資料番号 | ICD2021-41 | |
| 発行日 | 2021-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2021-31 ICD2021-41 DC2021-37 RECONF2021-39 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2021-41 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2021-12-01 - 2021-12-02 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | デザインガイア2021 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2021 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2021-12-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | オンチップモニタを用いたダイナミック電圧ドロップ診断 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Diagnosis of Switching-Induced IR Drop by On-Chip Voltage Monitors |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電源ノイズ / Power Noise |
| キーワード(2)（和/英） | バックグランド診断 / background diagnosis |
| キーワード(3)（和/英） | オンチップモニタリング / on-chip monitoring |
| キーワード(4)（和/英） | 大規模集積回路 / VLSI circuits |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 門田 和樹 / Kazuki / モンタ カズキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Monta (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | レオニダス カタセラス / Leonidas Kataselas / レオニダス カタセラス |
| 第2著者 所属（和/英） | アリストトゥル大学 (略称： アリストトゥル大) Aristotle University (略称： Aristotle Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | フェレンク フォーダー / Ferenc Fodor / フェレンク フォーダー |
| 第3著者 所属（和/英） | IMEC (略称： IMEC) IMEC (略称： IMEC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | アルキス ハッツォプーロス / Alkis Hatzopoulos / アルキス ハッツォプーロス |
| 第4著者 所属（和/英） | アリストトゥル大学 (略称： アリストトゥル大) Aristotle University (略称： Aristotle Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第5著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Monta (略称： Kobe Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | エリック ヤン マリニッセン / Erik Jan Marinissen / エリック ヤン マリニッセン |
| 第6著者 所属（和/英） | IMEC (略称： IMEC) IMEC (略称： IMEC) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-12-01 14:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | VLD2021-31, ICD2021-41, DC2021-37, RECONF2021-39 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | no.277(VLD), no.278(ICD), no.279(DC), no.280(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.83-86 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2021-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
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