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| 講演名 | 2021-10-19 15:25 静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討 ○太刀掛彩希・鍛治秀伍・藤本大介・林 優一（奈良先端大）  HWS2021-50 ICD2021-24 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2021-24 |
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| 抄録 | （和） | Physical Unclonable Function (PUF) を用いた個体識別技術は、半導体デバイスやプリント基板の真正性を保証する。従来のPUFでは主に半導体の製造ばらつきに着目しているが、IC外部の製造ばらつきにも着目することで、従来のPUFを用いた個体識別によって真正性が保証される範囲を基板レベルに拡張できる可能性がある。本稿では、基板レベルの個体識別手法を実現するための前段階として、ICに実装された静電容量センサの出力値の差異に着目し、基板を識別する手法を提案する。具体的には、IC内のADCと基板上のトレースの製造ばらつきに起因して、同一モデルの異なる機器間で静電容量センサの出力値に差異が生ずることを示す。そして、複数の機器の静電容量センサの出力値を用いた識別実験により、同一個体を判別できることを示す。 |
| （英） | Individual identification technology using Physical Unclonable Functions (PUFs) guarantees the authenticity of semiconductor devices and printed circuit boards (PCBs). Previous PUFs mainly focus on the manufacturing variability of semiconductors. However, the scope of authenticity assurance could be extended to the board level by focusing on the manufacturing variability outside the integrated circuits (ICs). This paper proposes an individual identification method of PCBs by focusing on differences in output values of capacitance sensors installed on ICs as a fundamental study to realizing a board-level individual identification method. Specifically, we show that differences in the output values of capacitance sensors occur between different devices of the same model due to manufacturing variations in the ADC in the IC and the trace on the board. In addition, we show that it is possible to identify the same device by an identification experiment using the output values of capacitance sensors of multiple devices. | |
| キーワード | （和） | Physical Unclonable Function / デバイス識別 / 製造ばらつき / / / / / |
| （英） | Physical Unclonable Function / device identification / manufacturing variation / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 121, no. 206, HWS2021-50, pp. 49-52, 2021年10月. | |
| 資料番号 | HWS2021-50 | |
| 発行日 | 2021-10-12 (HWS, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | HWS2021-50 ICD2021-24 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2021-24 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS ICD |
| 開催期間 | 2021-10-19 - 2021-10-19 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | ハードウェアセキュリティ，一般 |
| テーマ（英） | Hardware Security, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2021-10-HWS-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental Study on Individual Identification of Printed Circuit Boards Using Capacitance Sensors |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | Physical Unclonable Function / Physical Unclonable Function |
| キーワード(2)（和/英） | デバイス識別 / device identification |
| キーワード(3)（和/英） | 製造ばらつき / manufacturing variation |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 太刀掛 彩希 / Ayaki Tachikake / タチカケ アヤキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji / カジ シュウゴ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤本 大介 / Daisuke Fujitomo / フジモト ダイスケ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第4著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2021-10-19 15:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | HWS2021-50, ICD2021-24 |
| 巻番号（vol） | vol.121 |
| 号番号（no） | no.206(HWS), no.207(ICD) |
| ページ範囲 | pp.49-52 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2021-10-12 (HWS, ICD) |
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