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講演抄録/キーワード
講演名 2020-11-17 10:30
LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究
大庭 涼星野 竜宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32
抄録 (和) LSIテストでは通常動作時に比べて信号値遷移が多く発生するため,消費電力が増加する.消費電力が増加すると過度なIR-dropが発生し,遅延値が過度に増大し誤テストを引き起こす原因となる.過度なIR-dropは回路全体に発生するのではなく,信号値遷移が密集しているエリアで発生する.よって,誤テストの原因となる過度なIR-dropを効率的に削減するためには,信号値遷移が密集するエリアをLSIの設計時に特定し対処することが重要である.本稿では,LSI設計データの論理ゲートの組合せに対する信号値遷移確率に着目することで,信号値遷移が密集しやすいエリアを特定する手法を提案する. 
(英) Power consumption in LSI testing is higher than in functional mode since more switching activities occur. High power consumption causes excessive IR-drop and excessive delay, resulting in test malfunction. Excessive IR-drop does not uniformly occur in the whole area of circuit, but in certain areas where many switching activities occur. Therefore, it is important for efficient reduction of excessive IR-drop to locate areas where many switching activities occur during LSI testing. In this work, we propose a method to locate areas where many switching activities occur by focusing on the probability calculation for the combination of several logic gates in LSI design data.
キーワード (和) 実速度テスト / テスト時の消費電力 / IR-Drop / 遷移遅延故障テスト / 誤テスト / 信号値遷移確率 / /  
(英) at-speed testing / test power / IR-drop / transition delay test / test malfunction / probability of switching activity / /  
文献情報 信学技報, vol. 120, no. 236, DC2020-33, pp. 12-17, 2020年11月.
資料番号 DC2020-33 
発行日 2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32

研究会情報
研究会 VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM  
開催期間 2020-11-17 - 2020-11-18 
開催地(和) オンライン開催 
開催地(英) Online 
テーマ(和) デザインガイア2020 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2020 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2020-11-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Power Analysis Based on Probability Calculation of Small Regions in LSI 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 実速度テスト / at-speed testing  
キーワード(2)(和/英) テスト時の消費電力 / test power  
キーワード(3)(和/英) IR-Drop / IR-drop  
キーワード(4)(和/英) 遷移遅延故障テスト / transition delay test  
キーワード(5)(和/英) 誤テスト / test malfunction  
キーワード(6)(和/英) 信号値遷移確率 / probability of switching activity  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 大庭 涼 / Ryo Oba / オオバ リョウ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 星野 竜 / Ryu Hoshino / ホシノ リュウ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第5著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
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講演者
発表日時 2020-11-17 10:30:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2020-13,IEICE-ICD2020-33,IEICE-DC2020-33,IEICE-RECONF2020-32 
巻番号(vol) IEICE-120 
号番号(no) no.234(VLD), no.235(ICD), no.236(DC), no.237(RECONF) 
ページ範囲 pp.12-17 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2020-11-10,IEICE-ICD-2020-11-10,IEICE-DC-2020-11-10,IEICE-RECONF-2020-11-10 


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