講演抄録/キーワード |
講演名 |
2020-11-17 10:30
LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究 ○大庭 涼・星野 竜・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司(九工大) VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2020-33 |
抄録 |
(和) |
LSIテストでは通常動作時に比べて信号値遷移が多く発生するため,消費電力が増加する.消費電力が増加すると過度なIR-dropが発生し,遅延値が過度に増大し誤テストを引き起こす原因となる.過度なIR-dropは回路全体に発生するのではなく,信号値遷移が密集しているエリアで発生する.よって,誤テストの原因となる過度なIR-dropを効率的に削減するためには,信号値遷移が密集するエリアをLSIの設計時に特定し対処することが重要である.本稿では,LSI設計データの論理ゲートの組合せに対する信号値遷移確率に着目することで,信号値遷移が密集しやすいエリアを特定する手法を提案する. |
(英) |
Power consumption in LSI testing is higher than in functional mode since more switching activities occur. High power consumption causes excessive IR-drop and excessive delay, resulting in test malfunction. Excessive IR-drop does not uniformly occur in the whole area of circuit, but in certain areas where many switching activities occur. Therefore, it is important for efficient reduction of excessive IR-drop to locate areas where many switching activities occur during LSI testing. In this work, we propose a method to locate areas where many switching activities occur by focusing on the probability calculation for the combination of several logic gates in LSI design data. |
キーワード |
(和) |
実速度テスト / テスト時の消費電力 / IR-Drop / 遷移遅延故障テスト / 誤テスト / 信号値遷移確率 / / |
(英) |
at-speed testing / test power / IR-drop / transition delay test / test malfunction / probability of switching activity / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 120, no. 236, DC2020-33, pp. 12-17, 2020年11月. |
資料番号 |
DC2020-33 |
発行日 |
2020-11-10 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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